Medidas en dispositivos con cifra de ruido muy alta

Las medidas de componentes con cifra de ruido muy alta se realizan por varias razones. Por ejemplo, en muchas aplicaciones, los dispositivos bajo prueba (DUT) se caracterizan en el marco de un sistema de medida complejo que incluye altas pérdidas antes o después del DUT de bajo ruido. En presencia de altas frecuencias, la matriz de conmutación con enrutamiento de señal y cables complejos puede resultar en pérdidas muy altas. En otros casos, el dispositivo puede estar integrado en un sistema de medida al que es imposible acceder directamente de forma física. Un ejemplo de este tipo sería el sondeo sobre oblea. Con equipos de medida convencionales, las medidas de cifra de ruido de dichos dispositivos son sumamente inestables, por no calificarlas directamente de imposibles.