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The R&S®RTC1000 oscilloscope has a wide range of functions that address a broad group of users. Explore its state-of-the-art, high-performance technology.

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R&S®RTA4000 Oscilloscope
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The R&S®RTA4000 oscilloscope is designed for top-class signal integrity and responsive ultra-deep memory. See more of your signals with the power of 10.

R&S®RTO6 Oscilloscope
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R&S®RTO6 is the oscilloscope you can trust. With bandwidths up to 6 GHz, it lets you test & debug your designs quickly. Leverage your expertise now!

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R&S®RTO2000 oscilloscopes offer bandwidths from 600 MHz to 6 GHz to test, debug and characterize your designs quickly. Explore and test now!

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L’accuratezza delle misure con l’oscilloscopio e la sicurezza degli operatori dipendono dalle sonde e dagli accessori utilizzati. Qui trovate le sonde per oscilloscopi adatte ad ogni vostra esigenza di test!

eBook: Tips and tricks for accurate high-voltage measurements
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eBook: Tips and tricks for accurate high-voltage measurements

Learn and make best use of high-voltage probe solutions while achieving reliable measurement results, making applications safe, and enabling ease of operation.

Power efficiency testing
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Discover direct hit solutions from Rohde & Schwarz for embedded power efficiency testing applications.

Rohde & Schwarz and VIAVI Solutions demonstrate energy efficiency of Analog Devices’ new Titan O-RU at MWC 2025
Notizie
Rohde & Schwarz and VIAVI Solutions demonstrate energy efficiency of Analog Devices’ new Titan O-RU at MWC 2025

To showcase the potential of network energy saving (NES) in open radio access networks (O-RAN), Rohde & Schwarz and VIAVI Solutions have collaborated with Analog Devices. At Mobile World Congress 2025 in Barcelona, visitors can experience the joint O-RU test solution of the two T&M companies as it verifies the low power consumption of Analog Devices’ new Titan O-RU platform according to ETSI specifications. These network energy saving tests help to significantly reduce energy consumption and OPEX in O-RAN integrations.

4 mar 2025 | Comunicato stampa | Wireless communications

Rohde & Schwarz presents its solutions for next generation wide bandgap device test and debug at PCIM Europe
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Rohde & Schwarz presents its solutions for next generation wide bandgap device test and debug at PCIM Europe

Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions for power electronics testing at PCIM Europe in Nuremberg, addressing challenges of testing and debugging the next generation of wide bandgap semiconductors in power electronic converters.

27 mag 2024 | Comunicato stampa | Test & measurement

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