노이즈 지수가 매우 높은 구성요소의 측정은 여러 가지 이유로 수행합니다. 예를 들어 저노이즈 DUT 전후에 높은 손실이 포함된 복잡한 테스트 셋업 안에서 DUT(Device under Test)를 특성분석하는 다양한 운용 환경이 있습니다. 고주파의 경우 복잡한 신호 라우팅과 배선이 포함된 스위치 매트릭스는 손실이 매우 높을 수 있습니다. 또는 온웨이퍼(On-wafer) 프로빙과 같이 직접 접근이 물리적으로 불가능한 방식으로 기기가 임베드된 테스트 셋업도 있습니다. 기존 측정 장비를 사용할 경우 이러한 기기의 노이즈 지수를 측정하는 것은 매우 불안정하며 거의 불가능에 가깝습니다.
This application note describes a technique to perform the noise figure measurement on lossy devices like attenuators, or on devices embedded into in test setups with high loss in front of the low noise amplifiers. The R&S®FSW-K30 noise figure measurement application performs this important measurement with a signal and spectrum analyzer using the Y-factor method. Key for this technique is a modified noise source with high level noise output signal that stimulates the device under test, and a sensitive spectrum analyzer that captures the signal from the device.
