고속 디지털 애플리케이션의 테스트 픽스처 디임베딩
고속 디지털 측정 애플리케이션에서는 테스트 장치를 측정 장비에 연결할 때 일반적으로 테스트 픽스처를 사용합니다. 특성분석과 시간 및 주파수 도메인에서의 분석으로 여러 가지의 제약 원인을 파악하여 픽스처에 영향을 미치는 요인을 제거할 수 있습니다.
In high-speed digital measurement applications, test fixtures are commonly used to connect devices under test to measurement equipment. Characterization, and analysis in the time and frequency domains that accounts for various constraints helps to remove the influence of these fixtures.
Type
애플리케이션 노트
Version
2e
Date
May 26, 2023
Size
4 MB
