본 웹세미나는 고속 디지털 전자 기기의 설계 및 테스트 작업을 하는 엔지니어를 위해 준비되었습니다.설계를 검증하기 전에는 반드시 DUT만 측정되도록 VNA를 교정해야 합니다. 동축 어댑터를 사용할 때에는 직관적인 방식으로 교정을 수행할 수 있습니다. 하지만 인쇄 회로 기판과 같은 대부분의 DUT는 동축 어댑터를 지원하지 않기 때문에 픽스처(Fixture)를 사용해 특별한 커넥터에 맞춰 조정할 필요가 있습니다. S-파라미터 디임베딩은 픽스처 효과와 Lead-ins를 정확하게 보상하기 위해 사용됩니다.

가장 먼저 S-파라미터와 교정에 대한 기본적인 내용을 간단히 소개합니다. 픽스처 보상 방법에 대해서도 간략히 알아봅니다. 웹세미나에서는 IEEE STD 370에 정의된 디임베딩과 픽스처 모델링을 소개하고 데모를 보여드립니다. 디임베딩을 이용한 PCB 테스트, 커넥터 테스트 픽스처 보상, 케이블 테스트 픽스처 보상, SoC 테스트 픽스처 보상, 동축 커넥터가 없는 RF 장치 등의 사용 사례에 대해 살펴봅니다. 실무 예제와 데모를 통해 방법과 사용 사례를 살펴봅니다.