신호 무결성: 인터페이스 테스트
신호 무결성은 디지털 설계에서 모든 인터페이스의 정상 작동을 위해 반드시 필요합니다. 칩의 송신기 및 수신기 구현과 더불어 PCB 트레이스, 바이어스, 커넥터 및 케이블을 포함한 전송 채널의 설계에 의해 신호 무결성이 많은 영향을 받기 때문입니다. EYE 다이어그램은 신호 품질 판단에 도움이 되는 즉각적인 통찰을 제공합니다. 신호 무결성 손상은 대개 패턴에 따라 달라지므로, 획득 속도가 높을수록 합리적인 시간 내에 많은 획득을 포착하고 EYE 다이어그램에서 최악의 시나리오를 확인하는 데 도움이 됩니다. 심도있는 분석 및 디버그를 위해, 이러한 테스트는 일반적으로 중요한 신호 트레이스에 대하여 TDR/TDT 측정과 함께 지터 및 노이즈의 정확한 측정 및 분석으로 보완할 수 있습니다. 프로빙은 좋은 측정 결과를 얻기 위한 핵심 요소이며, 디임베딩은 프로브 포인트와 테스트 포인트 사이의 신호 경로 효과를 제거하고 이상적인 측정 평면에서 정확한 결과를 얻기 위해 사용됩니다. 실시간 디임베딩을 사용하면 교정된 파형에 대한 트리거링도 수행할 수 있습니다.
시간 및 주파수 도메인에 전문성을 갖추고 해당 표준화 기구와 긴밀히 협력하는 로데슈바르즈는 시스템 및 칩 레벨에서 인터페이스 테스트를 수행할 수 있는 광범위한 신호 무결성 솔루션을 제공합니다.