신호 무결성 테스트

신호 무결성: 인터페이스 테스트

신호 무결성은 디지털 설계에서 모든 인터페이스의 정상 작동을 위해 반드시 필요합니다. 칩의 송신기 및 수신기 구현과 더불어 PCB 트레이스, 바이어스, 커넥터 및 케이블을 포함한 전송 채널의 설계에 의해 신호 무결성이 많은 영향을 받기 때문입니다. EYE 다이어그램은 신호 품질 판단에 도움이 되는 즉각적인 통찰을 제공합니다. 신호 무결성 손상은 대개 패턴에 따라 달라지므로, 획득 속도가 높을수록 합리적인 시간 내에 많은 획득을 포착하고 EYE 다이어그램에서 최악의 시나리오를 확인하는 데 도움이 됩니다. 심도있는 분석 및 디버그를 위해, 이러한 테스트는 일반적으로 중요한 신호 트레이스에 대하여 TDR/TDT 측정과 함께 지터 및 노이즈의 정확한 측정 및 분석으로 보완할 수 있습니다. 프로빙은 좋은 측정 결과를 얻기 위한 핵심 요소이며, 디임베딩은 프로브 포인트와 테스트 포인트 사이의 신호 경로 효과를 제거하고 이상적인 측정 평면에서 정확한 결과를 얻기 위해 사용됩니다. 실시간 디임베딩을 사용하면 교정된 파형에 대한 트리거링도 수행할 수 있습니다.

시간 및 주파수 도메인에 전문성을 갖추고 해당 표준화 기구와 긴밀히 협력하는 로데슈바르즈는 시스템 및 칩 레벨에서 인터페이스 테스트를 수행할 수 있는 광범위한 신호 무결성 솔루션을 제공합니다.

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포스터: 신호 무결성 EYE 테스트

이 포스터에서 송신기 또는 수신기에서 신호 무결성 EYE 테스트를 측정하는 방식과 오실로스코프 및 벡터 네트워크 분석기로 EYE 다이어그램을 생성하는 방법을 확인하십시오.

포스터를 실험실의 레퍼런스 자료로 활용해 보세요. PDF 또는 하드카피 버전으로 다운로드하면 출력 후 실험실에서 사용할 수 있습니다.

적합성 테스트 실패

적합성 테스트에 실패했습니다. 이제 어떻게 해야 할까요?

적합성 테스트는 전자기기와 액세서리 간 상호 호환성을 보장하기 위해 USB, HDMI, PCI Express 등의 직렬 데이터 인터페이스에서 수행합니다. 신호 무결성 문제가 발생하는 경우에 대비해 R&S®RTP 오실로스코프는 아이 다이어그램, 지터 및 노이즈 분리, 타임 도메인 반사 측정과 같은 강력한 툴을 제공하여 근본 원인 분석을 지원합니다.

인터페이스 테스트 관련 웹세미나

Webinar: Advanced eye analysis - get to your results faster

Webinar: Advanced eye analysis - get to your results faster

The advanced eye analysis options in R&S©RTP oscilloscopes use a hardware based CDR, providing an unrivalled number of UI acquisitions per second. Besides the traditional eye analysis on a captured bit sequence, R&S©RTP also offers a tool for long-term eye monitoring.

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향상된 EYE 분석을 통해 깨달음의 순간에 더욱 빠르게 도달하십시오.

웹세미나: Get to your 'AHA' moment quicker with advanced eye analysis

R&S는 하드웨어에서 아이 다이어그램을 캡처 및 측정하는 새로운 방법을 개발했습니다. 이상현상을 찾거나 통계적 분석을 수행하는 데 필요한 전체 비트를 더욱 빠르게 캡처, 자동 추적, 표시합니다.

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신기술 소개

웹세미나: Introduction to novel Rohde & Schwarz approach for jitter decomposition

지터 분리는 지터의 근본 원인을 디버깅 및 발견하는 데 매우 중요합니다. 이 웹세미나에서 이러한 작업에서 로데슈바르즈가 새롭게 채택한 방식에 대해 소개합니다.

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디임베딩 소개 웹세미나

웹세미나: Demystifying deembedding for testing high-speed digital and RF signals

이 웹세미나에서는 측정 셋업이 결과에 미치는 영향과 고속 디지털 및 RF 신호를 측정할 때 필요한 최적의 방법에 대해 살펴봅니다.

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5단계 실시간 EYE 다이어그램

웹세미나: 5단계 실시간 EYE 다이어그램 - 신호 무결성 디버깅

고속 인터페이스 설계 및 테스트 작업을 하는 엔지니어를 위한 웹세미나입니다. 일반적인 설계 과제 및 방법에 대한 설명과 신호 무결성 분석을 다룹니다.

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인터페이스 테스트 관련 문서

접지 진행 여부의 문제 - 프로브를 연결하는 방법

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 P/N/DM/CM 멀티모드 작동을 지원해 싱글 엔드 및 디퍼런셜 신호 측정 시 우수한 유연성을 제공합니다. 접지 연결이 일반적으로 권장되는 경우에도 접지 루프가 유도될 수 있습니다. 접지를 할 것인가 여부 - 본 문서에서 주요 고려사항에 대해 살펴봅니다.

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고속 데이터콤 인터페이스를 위한 신호 무결성 분석

R&S®RTP 및 R&S®RTO2000 오실로스코프는 신호 모델 기반 지터 및 노이즈 분해를 위한 옵션을 제공합니다. 이 방식은 기본적으로 시스템의 스텝 응답도 제공합니다. 추가 연결 없이 시간 및 주파수 도메인에서 분석이 가능하며 시스템의 주파수 응답에 대한 크기와 위상도 표시해줍니다.

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Joint 지터 및 노이즈 분해 기반 신호 모델 접근 방식

Joint 지터 및 노이즈 분해 기반 신호 모델 접근 방식

고속 직렬 신호의 검증 및 디버깅을 위해 지터 및 노이즈 소스를 정확하게 분리하는 것이 중요합니다. 신호 모델 기반의 접근 방식은 기존 방식과 비교하여 더 높은 수준의 분해 정확도를 제공합니다. 또한 추가 분석을 위한 상승 및 하강 단계 응답과 같은 결과도 제공합니다.

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지터 및 노이즈 분리 솔루션 비교

지터 및 노이즈 분리 솔루션 비교

R&S®RTP, R&S®RTO6, R&S®RTO2000 오실로스코프의 신호 모델 기반 지터 및 노이즈 분해는 최고의 정확도를 제공합니다. 이 문서에서는 다양한 지터 성분에 대해 간략히 설명합니다. 그런 다음 알려진 지터 성분의 파형을 사용해 각각 다른 상용 지터 분해 솔루션의 결과를 비교합니다.

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R&S®RTP를 이용한 실시간 디임베딩

R&S®RTP를 이용한 실시간 디임베딩

테스트 셋업의 테스트 픽스처와 케이블의 디임베딩은 디지털 인터페이스에 대한 유효한 측정을 수행하는 데 필수적입니다. R&S®RTP Oscilloscope 옵션 K122는 실제 신호 속성을 실시간으로 트리거 및 측정하기 위한 실시간 디임베딩을 제공합니다.

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고속 인터페이스에서 디퍼런셜 측정 최적화

고속 인터페이스에서 디퍼런셜 측정 최적화

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 싱글 엔드뿐 아니라, differential mode 와 normal mode에서도 측정을 지원합니다. 접지 연결은 회로 플로팅을 방지하고, 안정적이며 재현 가능한 신호를 보장합니다.

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Channel-to-Channel 정렬 개선

정확한 Phase Coherent의 멀티채널 Acquisition을 위한 Channel-to-channel 정렬 개선

Channel-to-Channel의 측정 및 정렬은 정확한 멀티채널 측정을 수행하기 전 필수적인 전제조건입니다. R&S®RTO 및 R&S®RTP Oscilloscope는 이러한 정렬 작업을 쉽게 수행할 수 있는 고속 디퍼런셜 펄스 소스(R&S®RTO-B7 및 R&S®RTP-B7)를 옵션으로 제공합니다.

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전문 트리거를 사용하여 더욱 빠르게 디버깅

전문 트리거를 사용하여 더욱 빠르게 디버깅

R&S 오실로스코프의 디지털 트리거 시스템은 획득한 샘플에 실시간으로 직접 액세스하며, 최고의 정확도로 다양한 트리거 조건을 지원합니다.

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지터 분석

R&S®RTO Digital Oscilloscope를 이용한 지터 분석

지터는 신호 무결성 분석의 주요 사항입니다. R&S 오실로스코프에 R&S®RTP-K12 및 R&S®RTO-K12 옵션을 사용하면 TIE 지터, period 지터, cycle-cycle 지터 등을 측정하고 지터 트랙, 히스토그램, 스펙트럼 등의 결과를 조회할 수 있습니다.

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인터페이스 테스트 관련 동영상

Advanced Jitter Analysis with R&S Oscilloscopes

R&S 오실로스코프를 이용한 향상된 지터 분석

R&S®RTx-K133는 신호 모델 기반의 새로운 지터 분해 방식을 제공합니다. 기존 방법과 비교하여 더 높은 수준의 분해 정확도뿐만 아니라 추가 분석을 위한 상승 및 하강 단계 응답과 같은 유의미한 결과도 제공합니다.

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

R&S 오실로스코프를 이용한 TDR/TDT 분석

R&S®RTP-K130를 이용여 임피던스 및 송신 손실을 분석하는 TDR/TDT 측정. 측정 레퍼런스 평면을 원하는 위치로 쉽게 이동시키기 위해 사용법이 간편한 교정 마법사가 옵션에 포함되어 있습니다.

Realtime deembedding

R&S®RTP를 이용한 실시간 디임베딩

R&S®RTP Oscilloscope용 옵션 K122를 이용한 신호 경로의 실시간 디임베딩. 디임베딩된 신호에서만 탐지 가능한 신호 이벤트만 트리거합니다.

Industry-leading mask test: quick configuration – reliable results

계측 분야를 선도하는 마스크 테스트: 빠른 구성 - 신뢰할 수 있는 결과

R&S®RTO를 이용한 EYE 다이어그램 측정 및 EYE 마스크 정의. 마스크 테스트는 특정 신호가 정의된 허용 한도 이내인지 여부를 확인해 DUT(Device under Test)의 pass/fail 평가 결과를 제공합니다.

Signal integrity measurements with jitter analysis

R&S®RTO를 이용한 지터 분석

R&S®RTO Oscilloscope 옵션 K12를 이용한 TIE 지터 측정. 클록 장애를 감지하기 위한 통계, 트랙, 히스토그램, 스펙트럼 뷰에서 클록 신호의 TIE 지터 분석.

관련 제품

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