고속 디지털 인터페이스 테스트

고속 디지털 인터페이스 테스트

고속 디지털 설계의 검증, 디버깅 및 컴플라이언스 테스트를 위한 T&M 솔루션

고속 디지털 인터페이스는 모든 전자 설계의 핵심입니다. 데이터 속도가 증가하고 통합 밀도가 높아지면 IC, 보드 및 시스템 수준의 설계에서 새로운 문제가 발생합니다. 신호 무결성은 핵심 요건으로, 인근의 무선 신호, 기타 고속 인터페이스, 파워 레일의 장애가 존재하는 경우에도 반드시 보장되어야 합니다. 최악의 시나리오를 효율적으로 캡처하기 위해서는 빠른 획득 속도와 강력한 트리거링이 필수적입니다.

로데슈바르즈의 테스트 솔루션은 컴플라이언스 테스트뿐 아니라 아래의 시스템 검증 및 디버깅을 위한 강력한 도구를 제공합니다.

  • 신호 무결성: 인터페이스 테스트
  • 신호 무결성: PCB 및 상호 연결 테스트
  • 프로토콜 레벨 디버깅
  • 전력 무결성 테스트
고속 디지털 인터페이스 테스트, DDR 테스트

DDR – Double Data Rate Memory

  • 설계 검증 및 디버깅을 위한 테스트 솔루션
  • 컴플라이언스 테스트를 위한 테스트 솔루션
고속 디지털 인터페이스 테스트, USB 테스트

USB – Universal Serial Bus

  • 설계 검증 및 디버깅을 위한 테스트 솔루션
  • 컴플라이언스 테스트를 위한 테스트 솔루션
고속 디지털 인터페이스 테스트, PCIe 테스트

PCIe – Peripheral Component Interconnect Express

  • 설계 검증 및 디버깅을 위한 테스트 솔루션
  • 컴플라이언스 테스트를 위한 테스트 솔루션
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