Оптимизация полупроводниковых переключателей с широкой запрещенной зоной для соответствия требованиям по ЭМП

Соответствие по ЭМП — главная проблема для передовой силовой электроники из-за возрастания скоростей переключения. Измерения с корреляцией времени и частоты помогают оптимизировать управление стробом и минимизировать электромагнитное излучение уже во время разработки.

EMI-compliance-oscilloscopes-probing-solutions-enable-EMI-testing_50955_08_01.jpg

Измерительная задача

Использование материалов с широкой запрещенной зоной, таких как карбид кремния (SiC) и нитрид галлия (GaN), обеспечивает высокие частоты переключения и резко нарастающие фронты, а также высокие напряжения. Эти характеристики повышают эффективность переключения источников питания и делают более перспективным выполнение требований на соответствие по ЭМП. Соблюдение принципов проектирования для уменьшения ЭМП столь же важно, как и испытания и оптимизация для соответствия по ЭМП на фазе разработки.

Решение компании Rohde & Schwarz

Осциллографы — высокоэффективные инструменты, применяемые инженерами-электриками для решения ежедневных задач. Чувствительность и производительность современных осциллографов обеспечивают возможность выполнения задач по оптимизации ЭМП на фазе разработки нового продукта. Полезные функции осциллографов от компании Rohde & Schwarz — прямой ввод полосы разрешения и частоты, а также поддержание высокой частоты дискретизации . При использовании с компактным комплектом пробников для измерения электрического и магнитного поля в ближней зоне R&S®HZ-15, а также c компактным комплектом пробников для измерения магнитного поля в ближней зоне R&S®HZ-17 (оба с полосой пропускания 3 ГГц), осциллограф легко определяет источник и тракт передачи нежелательных излучений на печатной плате.

optimizing-wide-bandgap_ac_5216-3208-92_02.jpg
Оконная функция БПФ помогает определять, какие сегменты сигнала временной области с какими событиями в спектре коррелируют.

Применение

Оконная функция БПФ для анализа с корреляцией времени и частоты

Для расширенного анализа, например, корреляции между сигналами во временной и частотной областях, важное значение имеет оконная функция БПФ для осциллографов R&S®RTE1000 и R&S®RTO6. Эта функция ограничивает анализ спектра определенным пользователем участком захваченного сигнала временной области.

В результате избыточные спектральные излучения могут коррелировать с выделенными временными периодами непрерывного сигнала. Во время испытаний на ЭМП это не только помогает идентифицировать источник нежелательных электромагнитных излучений по сигналам временной области, но также обеспечивает возможность проведения прямых испытаний в различных сценариях эксплуатации.

Оптимизация применения решений с широкой запрещенной зоной
ЭМП моста MOSFET (красного цвета) существенно снижается за счет оптимизации управляющего напряжения строба (зеленого цвета). В случае (1) использовался прямоугольный управляющий сигнал строба, тогда как в случае (2) использовался модифицированный двухуровневый управляющий сигнал строба. © IFE Graz University of Technology, Austria

Оптимизация управляющего напряжения строба применительно к излучению ЭМП

Одним из источников излучений ЭМП в цепях силовой электроники является мост MOSFET с малым временем переключения. Простой способ снизить ЭМП — изменить управляющее напряжение строба для переключающих транзисторов. Это требует параллельного измерения управляющего напряжения строба, выходного сигнала и испускаемого излучения, а также их спектра.

На приведенном ниже рисунке показаны различные задающие сигналы моста MOSFET и анализируется их влияние на испускаемое излучение. В случае (1) был подан прямоугольный управляющий сигнал строба, тогда как в случае (2) использовался каскадный двухуровневый прямоугольный управляющий сигнал строба (зеленого цвета). Параллельный мониторинг излучения ЭМП с помощью пробника ближнего поля отчетливо показывает, что этот метод эффективен: амплитуда высокочастотных составляющих сигнала ЭМП (красного цвета) значительно снижается.

ЭМП моста MOSFET (красного цвета) существенно снижается за счет оптимизации управляющего напряжения строба (зеленого цвета). В случае (1) использовался прямоугольный управляющий сигнал строба, тогда как в случае (2) использовался модифицированный двухуровневый управляющий сигнал строба. © IFE Graz University of Technology, Austria

Дальнейшие действия по оптимизации

Для определения оптимального управляющего напряжения строба должны анализироваться дополнительные параметры. Важный показатель — потери при переключении, которые могут увеличиваться при изменении сигналов управления стробом. Для измерений потерь при переключении необходимы токовые пробники и высоковольтные дифференциальные пробники с необходимыми характеристиками, важнейшими из которых являются максимальные значения напряжения и тока, а также полоса пропускания. Искажения сигналов тока и напряжения должны быть устранены во избежание ошибок измерений потерь при переключении:

  • Высоковольтные дифференциальные пробники R&S®RT-ZHD идеально подходят для полупроводников с малым временем переключения. Они поддерживают полосу пропускания до 200 МГц и максимальные измеряемые напряжения от 750 В до 6 кВ в сочетании с высокой степенью степени подавления синфазного сигнала.
  • Токовые пробники R&S®RT-ZC позволяют измерять ток в диапазоне от 5 А (СКЗ) с полосой пропускания 2 МГц до 500 А (СКЗ) с полосой пропускания 120 МГц.
  • Испытательное приспособление для устранения искажений питания и калибровки R&S®RT-ZF20 компенсирует дифференциальную задержку между пробниками тока и напряжения. Необходимо точно измерить потери при переключении.

Заключение

Быстродействующая и гибкая функция БПФ осциллографов от компании Rohde & Schwarz поддерживает детальные испытания на ЭМП для силовой электроники уже на фазе разработки современных электронных устройств. Усовершенствованный пользовательский интерфейс большого сенсорного экрана осциллографа R&S®RTO6 позволяет задавать и менять настройки БПФ с помощью всего лишь нескольких жестов. В сочетании с пробниками ближнего поля и высоковольтными дифференциальными или токовыми пробниками возможна полная оптимизация цепей силовой электроники без необходимости использования дополнительных испытательных инструментов. Это ускоряет разработку устройств силовой электроники и помогает успешно проходить квалификационные испытания этих устройств на ЭМС.

Связанные решения