Вопрос
Мне необходимо выполнить определенное измерение с различными настройками (мощности, полосы пропускания, ...).
Если я буду использовать СВЧ-пробник с внутрисхемной калибровочной подложкой для выполнения калибровки TOSM, это займет очень много времени, так как для каждой настройки необходимо повторное подключение всех четырех стандартов.
Есть ли возможность улучшить эту ситуацию?