Проверка и замена тактового генератора

Проверка и замена тактового генератора

Проверка характеристик джиттера и фазового шума

Аналого-цифровые и цифро-аналоговые преобразователи (АЦП/ЦАП) за последние 10 лет стали работать гораздо быстрее. Теперь типичной считается частота дискретизации на уровне 10 млрд отсчетов в секунду при 16-битном разрешении. Такие устройства поддерживают высокоскоростную обработку видео и работу с программно-конфигурируемыми радиостанциями (SDR), в которых оцифровка выполняется даже на еще более высоких радиочастотах. Это существенно повышает планку для генерации и испытаний тактовых сигналов, в частности по характеристикам шума и джиттера.

Решения для проверки и замены тактового генератора

Идеальный источник тактовых сигналов

Для современных цифровых устройств и быстродействующих преобразователей данных требуются чистые тактовые сигналы с минимальным джиттером.

Больше информации

Родственные продукты

Генератор ВЧ- и СВЧ-сигналов R&S®SMA100B

Генератор ВЧ- и СВЧ-сигналов R&S®SMA100B — лучшие характеристики без компромиссов.

Информация о товаре

Анализатор фазовых шумов R&S®FSWP и тестер ГУН

Анализатор фазовых шумов и тестер ГУН R&S®FSWP сочетает в себе сверхмалошумящие внутренние источники и технологию кросс-корреляции.

Информация о товаре

Осциллограф R&S®RTO2000

Благодаря полосе пропускания от 600 МГц до 6 ГГц осциллографы R&S®RTO2000 отлично подходят для испытаний как во временной, так и в частотной области.

Информация о товаре

Связанные видео

First class ADCs thanks to first class signals

First class ADCs thanks to first class signals

This video presents how the R&S®SMA100B supports you in measuring the true performance of ADCs. The R&S®SMA100B provides you with purest signals. This makes ADC testing easy and helps you improving your products.

More information

Связанные темы и решения

Электронные устройства

Инженеры по электронике сталкиваются со все более сложными проблемами при проектировании и разработке архитектур встроенных плат.

Больше информации

Разработка и испытания аналоговых и цифровых схем

Для современных электронных устройств характерно постоянное расширение набора функциональных возможностей наряду с уменьшением размеров, что приводит к повышению скорости передачи данных и снижению уровня сигналов.

Больше информации

Испытания ВЧ- и СВЧ-компонентов

Компоненты должны удовлетворять высоким требованиям к мобильности, обеспечению связи, максимальной скорости передачи данных, надежности и энергоэффективности.

Больше информации

Запросить информацию

У вас есть вопросы или вам нужна дополнительная информация? Просто заполните эту форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.