Испытания цифровых устройств

Испытания цифровых устройств

Контрольно-измерительные решения для проверки и отладки цифровых устройств

Целостность сигнала и целостность питания имеют фундаментальное значение для цифровых устройств. Повышение скорости передачи данных и снижение напряжения питания, а также возрастание плотности интеграции накладывают на сигналы (в том числе и тактовые сигналы) требования по снижению уровней джиттера и шума. Из-за них происходят сильные искажения в канале передачи данных, например частотно-зависимым потери, отражения и перекрестные помехи, а также увеличивается влияние кратковременного падения напряжения и помех по земле в шинах питания. Кроме того, снижение напряжения питания сужает допуски по помехам в шинах питания, которые вызывают джиттер и увеличивают амплитудный шум в сигналах (в том числе тактовых сигналах).

Компания Rohde & Schwarz предоставляет широкий ассортимент решений для высокоэффективной проверки и отладки цифровых устройств:

  • Целостность сигнала: интерфейсные испытания
  • Целостность сигнала: испытания печатных плат и межсоединений
  • Целостность сигнала: испытания АЦП/ЦАП, ФАПЧ и дерева тактирования
  • Испытания на целостность питания
  • Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Решения для испытаний цифровых устройств

Целостность сигнала

Целостность сигнала

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Интерфейсные испытания

Больше информации

Целостность сигнала

Целостность сигнала

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Печатные платы
  • Испытания межсоединений

Больше информации

Целостность сигнала

Целостность сигнала

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Древовидная структура тактирования
  • Испытания ФАПЧ и АЦП/ЦАП

Больше информации

Испытания на целостность питания

Испытания на целостность питания

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Испытания на целостность питания
  • Испытания подачи питания

Больше информации

Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Запуск и декодирование шаблонов протоколов

Больше информации

embedded world 2023

Rohde & Schwarz at Embedded world 2023 in Nuremberg

Test & measurement for embedded systems

Solving complex test and measurement challenges requires innovative solutions from a reliable partner.

Join us at our booth in hall 4 I booth 218 from March 14 to March 16.

Связанные темы

Испытания высокоскоростных цифровых интерфейсов
Испытания высокоскоростных цифровых интерфейсов

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Проверка устройств и испытания в рамках отладки
  • Испытания на соответствие стандарту

Больше информации

Испытания устройств силовой электроники
Испытания устройств силовой электроники

Решения для испытаний в следующих областях:

  • Испытания преобразователей мощности
  • Встроенное питание

Больше информации

Испытания на ЭМС
Испытания на ЭМС

Передовые решения в области испытаний на электромагнитную совместимость, от отладки до полной проверки.

Больше информации

Запросить информацию

У вас есть вопросы или вам нужна дополнительная информация? Просто заполните эту форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время..

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.