München 20.02.2026
Rohde & Schwarz bietet Messtechniklösungen für unterschiedliche Embedded-Systeme.
Rohde & Schwarz präsentiert auf der embedded world Exhibition & Conference in Nürnberg seine innovativen Messtechniklösungen für die Embedded-Branche. Messebesucher finden den Messtechnik-Experten vom 10. bis 12. März 2026 an Stand 4-218 in Halle 4 des Messezentrums Nürnberg. Dort können sie sich über Innovationen informieren, die es Ingenieuren ermöglichen, die Energieeffizienz von Geräten zu verbessern, bei der Entwicklung schneller die EMV-Konformität zu erreichen, digitale Protokolle effizienter zu debuggen und gesetzliche Normen für Funkschnittstellen zuverlässig einzuhalten.
Oszilloskope der nächsten Generation
Auf der embedded world zeigt Rohde & Schwarz sein laufend wachsendes Angebot an Oszilloskopen der nächsten Generation, vom R&S®MXO 3 bis zum R&S®MXO 5 . Sie alle basieren auf der innovativen MXO-EP ASIC-Technologie von Rohde & Schwarz, die erstmals 2022 mit dem R&S®MXO 4 eingeführt wurde. Die jüngste Ergänzung, das kompakte MXO 3, bietet bis zu acht Kanäle sowie eine Funktionspalette, wie man sie sonst aus teureren Geräteklassen kennt – darunter eine Echtzeit-Erfassungsrate von bis zu 99 % sowie Hardwarebeschleunigung für Mathematik, Spektrumanalyse und Zonentrigger.
Gewährleistung der Zuverlässigkeit von Leistungselektronik
In Kombination mit Hochspannungstastköpfen, Stromzangen und optisch isolierten Tastköpfen (R&S RT-ZISO) eignen sich die Achtkanal-Modelle des MXO 3 und MXO 5 auch bestens für den Einsatz in der Leistungselektronik. Bei Leistungsumwandlungsanwendungen sorgen die acht Kanäle und der 18-bit-HD-Modus der Geräte für detaillierte Einblicke in komplexe Systeme wie Motorantriebe und Wechselrichter und ermöglichen präzise Messungen zur Effizienzsteigerung und Optimierung. Weiterhin vereinfachen sie die Analyse von Einschaltsequenzen dank simultaner Mehrkanal-Beobachtung und einem tiefen Speicher von bis zu 500 Mpts, der längere Aufzeichnungsdauern und eine präzise Analyse kleiner Signalereignisse ermöglicht. Darüber hinaus sind sie mit ihrer schnellen Spektrumanalysefunktion exzellente Werkzeuge zum schnellen Identifizieren von EMI-Problemen und Rauschquellen.
EMV-Tests für Embedded-Systeme
Alle Elektronikprodukte und -komponenten können prinzipiell geleitete und gestrahlte elektromagnetische Emissionen erzeugen. Besonders bei dicht bestückten Embedded-Systemen trägt eine frühzeitige Fehlersuche zur Isolation und Korrektur von EMI-Problemen zu einer schnelleren Markteinführung bei. Als führender Anbieter von EMV-Messtechnik präsentiert Rohde & Schwarz Lösungen, die EMI-Tests in den Produktentwicklungsprozess integrieren. Messebesucher erfahren, wie sich der R&S EPL1007 Funkstörmessempfänger für schnelle, genaue und zuverlässige EMI-Precompliance- und Konformitätsmessungen bis in den Frequenzbereich von 7,125 GHz einsetzen lässt. Der Empfänger bietet Geräteentwicklern und Konformitätstesthäusern flexible Nachrüstmöglichkeiten bei neuen Anforderungen – von der Vorselektion einschließlich Vorverstärker bis hin zu einem vollständigen CISPR 16-1-1-konformen Testempfänger.
Verifizieren der Signalintegrität in digitalen Designs
Grundsätzlich kann jedes Hardwareelement auf einer Leiterplatte Ursache einer Signalverschlechterung sein. Rohde & Schwarz zeigt auf der embedded world seinen R&S®ZNB3000 Vektornetzwerkanalysator, der Frequenzen bis 40 GHz abdeckt, beim Test der Signalintegrität einer Leiterplatte. Dieser VNA, der zur neuen Mittelklasse-Familie mit Geräten mit einem maximalen Frequenzbereich bis 54 GHz gehört, setzt mit seinem branchenführenden Dynamikbereich, seiner hohen Messgeschwindigkeit und den skalierbaren Erweiterungsmöglichkeiten neue Standards für Geschwindigkeit, Präzision und Vielseitigkeit. Er eignet sich perfekt für Signalintegritätsanwendungen. Messebesucher können die fortgeschrittenen Deembedding-Techniken des Geräts erleben, die es erlauben, auf benutzerfreundliche Weise den Prüfadapter zu charakterisieren, die S-Parameter zu extrahieren und den Prüfadapter dann zu kompensieren, während die Signalqualität in einem simulierten Augendiagramm visualisiert wird.
Tests von Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen
Digitale Hochgeschwindigkeitsschnittstellen sind aus elektronischen Designs nicht wegzudenken. Die immer höheren Datenraten und Integrationsdichten sorgen auf IC-, Board- und Systemebene für Herausforderungen. Messebesucher können sich am Stand von Rohde & Schwarz über leistungsstarke Signalintegritäts-Testtools zur Systemverifizierung und Fehlersuche sowie Konformitätstests für Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen, Leiterplatten und Verbindungen informieren. Rohde & Schwarz zeigt beispielhaft 1GBASE-T-Ethernet-Konformitätstests mit dem R&S®RTO6 Oszilloskop und passendem Zubehör, um sicherzustellen, dass ein 1-Gigabit-Ethernet-(1GbE)-PHY-Transceiver die im Standard IEEE 802.3 festgelegten Spezifikationen erfüllt. In einem anderen Aufbau demonstriert Rohde & Schwarz sein R&S RTP164B Oszilloskop für Signalintegritätstests nach einer Vielzahl von Standards wie DDR5 und USB3.2.
Bei Automotive-Schnittstellen bringen neue Standards wie Automotive Ethernet, OpenGMSL™ oder ASA (Automotive SerDes Alliance) auch neue Herausforderungen für das Design mit sich. Rohde & Schwarz unterstützt bereits sämtliche dieser Standards und zeigt eine umfassende Validierung mit dem R&S RTP164B Oszilloskop. Um eine robuste und zuverlässige Verbindungsperformance sicherzustellen, werden Funktionalitäten wie Signalintegritäts-Debugging, automatisierte Konformitätstests gemäß ASA sowie die Protokolldecodierung von 10Base-T1S genutzt.
Batterielaufzeittests
Bei batteriebetriebenen Geräten ist die Batterielaufzeit ein entscheidender Designaspekt. Rohde & Schwarz demonstriert in Echtzeit, wie sich die Funktionen von Smart-Geräten auf den Stromverbrauch auswirken. Der Aufbau basiert auf der R&S®NGU Source Measure Unit, die eine Batterie emuliert. Das integrierte Analysetool erfasst und visualisiert den Strom während der Übergänge vom Ruhe- zum Betriebsmodus. In einer weiteren Anwendung zu Batterietests mit dem R&S NGM202 werden Zellen geladen und entladen, um das Batterieverhalten zu charakterisieren und genaue Batteriemodelle zu erstellen.
Tests von Wireless-Verbindungen
Drahtlose Konnektivität wird immer öfter als Kernfunktion in Embedded-Systeme integriert. Gründliche Tests sind unerlässlich, um zuverlässige Performance, Interoperabilität und die Einhaltung von Industriestandards sicherzustellen. Die Komplexität dieser Normen macht spezielle Testgeräte und einschlägiges Know-how notwendig. Der CMP180 Radio Communication Tester von Rohde & Schwarz enthält zwei Analysatoren, zwei Generatoren und zwei Sätze von je acht HF-Toren in einem einzigen Gerät und unterstützt zahlreiche zellulare und nicht-zellulare Technologien für Anwendungen in Forschung & Entwicklung, Preconformance und Massenproduktion. Auf der embedded world können Besucher den CMP180 beim Testen von Bluetooth® LE- und Wi-Fi 8-Geräten erleben.
Die Plattform unterstützt bereits Tests der Bitübertragungsschicht für die neuen Funktionen Bluetooth® LE Channel Sounding und Bluetooth® LE High Data Throughput (HDT), das eine zentrale Komponente der nächsten Generation von Bluetooth® Low Energy (LE) bildet und mehr Kapazität, eine bessere Energieeffizienz, optimierte Spektraleffizienz und höhere Zuverlässigkeit verspricht. Wi-Fi 8 auf Basis des Standards IEEE 802.11bn setzt neue Maßstäbe für konsistente, extrem hohe Zuverlässigkeit und leistungsfähige Konnektivität. Der CMP180 ist die Antwort auf die immer größere Zahl vernetzter Geräte und anspruchsvoller Anwendungen wie XR und Industrial IoT. Er unterstützt Ingenieure bei der Bewältigung der technischen Herausforderungen von 802.11bn über den gesamten Gerätelebenszyklus im Non-Signaling-Modus dank fortgeschrittenen Funktionen und großer Bandbreitenabdeckung.
Effiziente Fertigungslinien und maßgeschneiderte Lösungen
Für Produktionstests auf Komponenten-, Modul- und Systemebene zeigt Rohde & Schwarz eine rackmontierte Messkonfiguration mit den Rack-optimierten R&S®MXO 5C Oszilloskopen sowie dem PVT360A Performance Vector Tester. Dieser Aufbau macht deutlich, wie maßgeschneiderte Testlösungen von Rohde & Schwarz eine Produktionsumgebung unterstützen, die auf zuverlässige Validierung, optimierte Workflows und maximalen Durchsatz ausgelegt ist.
Messebesucher können diese und andere Testlösungen für die Embedded-Branche am Rohde & Schwarz-Stand 4-218 in Halle 4 auf der embedded world Exhibition & Conference vom 10. bis 12. März 2026 in Nürnberg in Augenschein nehmen.
Weitere Informationen finden sich unter: www.rohde-schwarz.com/embedded-world
Ansprechpartner für Presse und Medien
Christian MokryPR Manager Test & measurement
+49 89 412913052
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Rohde & Schwarz
Rohde & Schwarz steht in seinen drei Divisionen Test & Measurement, Technology Systems und Networks & Cybersecurity für eine sichere und vernetzte Welt. Seit über 90 Jahren verschiebt der global agierende Technologiekonzern bei der Entwicklung von Spitzentechnologie die Grenzen des technisch Machbaren. Seine führenden Produkte und Lösungen befähigen Kunden aus Wirtschaft, Behörden und hoheitlichem Umfeld zur Gestaltung ihrer technologischen und digitalen Souveränität. Das Familienunternehmen mit Hauptsitz in München handelt unabhängig, langfristig und nachhaltig. Im Geschäftsjahr 2024/2025 (Juli bis Juni) erwirtschaftete Rohde & Schwarz einen Umsatz von 3,16 Milliarden Euro. Zum 30. Juni 2025 betrug die weltweite Zahl der Mitarbeitenden mehr als 15 000.
R&S® ist eingetragenes Warenzeichen der Firma Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG.
