Herausragende HF-Performance: hohe Messdynamik und Empfindlichkeit
Für die EMI-Fehlersuche bieten die R&S®MXO Oszilloskope eine hohe Dynamik und eine Eingangsempfindlichkeit von 500 μV/Div bei voller Messbandbreite, sodass selbst schwache Störaussendungen erfasst werden. Der 12-bit-ADC und der 18-bit-HD-Modus verbessern die vertikale Präzision. Die hardwarebeschleunigte FFT sorgt für eine schnelle und leistungsfähige Analyse im Frequenzbereich dank hoher Erfassungsrate und praktischen Funktionen wie der Farbcodierung der Spektrumanzeige nach der Häufigkeit des Auftretens.
Zusätzliche Funktion für die EMI-Fehlersuche
- Ultraschnelle FFT-Analyse: Eine Aktualisierungsrate von > 45 000 FFT/s hilft bei der Erfassung unerwünschter und schwer detektierbarer Spektralereignisse
- Logarithmische Anzeige und dBμV-Skalen: Einfacher Vergleich mit EMV-Testlabor-Ergebnissen und Überprüfung mit Grenzwertlinien basierend auf CISPR-Standards
- Schnelle Ergebnisse mit automatischer Peak-List-Messung: Automatische Messung von Frequenzspitzen, die in der FFT markiert und in einer Tabelle aufgelistet werden
- Max./Min.-Hold- und Durchschnittskurve: Statistische Kurven zeichnen den Maximal-, Minimal- und Durchschnittswert der Spektralenergie auf
Zeitbeschränkte FFT-Funktion: Korrelation zwischen Frequenz und Zeit
Mit der zeitbeschränkten FFT-Funktion des Oszilloskops ist die FFT-Analyse in einem benutzerdefinierten Bereich des erfassten Zeitsignals möglich. Verschieben Sie dieses Zeitfenster über das Akquisitionsintervall, um zu ermitteln, welche Segmente des Zeitsignals mit welchen Ereignissen im Spektrum korrelieren. So lassen sich beispielsweise unerwünschte Emissionen von Schaltnetzteilen dem Überschwingen beim Schalten des Schalttransistors zuordnen.