Messungen an Geräten mit sehr hohem Rauschmaß

Messungen an Komponenten mit sehr hohem Rauschmaß werden aus zahlreichen Gründen durchgeführt. Beispielsweise werden bei einer breiten Palette an Applikationen Messobjekte innerhalb eines komplexen Messaufbaus charakterisiert, der vor oder nach dem rauscharmen Messobjekt eine hohe Dämpfung aufweist. Im Fall hoher Frequenzen kann die Schaltmatrix mit komplexer Signalführung und Verkabelung möglicherweise zu einer sehr hohen Dämpfung beitragen. Ferner ist das Gerät unter Umständen in einen Messaufbau eingebettet, der keinen direkten physischen Zugriff ermöglicht, beispielsweise im Rahmen einer On-Wafer-Sondierung. Bei Verwendung herkömmlicher Messtechnik ist die Rauschzahlmessung an einem solchen Gerät sehr instabil oder sogar unmöglich.