Test delle interfacce digitali ad alta velocità

Test delle interfacce digitali ad alta velocità

Soluzioni di misura e collaudo per prove di conformità, verifica e debug di progetti digitali ad alta velocità

Le interfacce digitali ad alta velocità sono al centro di tutte le progettazioni elettroniche. L’aumento della velocità dei dati e la crescita della densità di integrazione pongono nuove sfide da affrontare nei progetti a livello di circuito integrato, circuito elettrico e sistema completo. L’integrità del segnale è un requisito chiave che necessita di essere garantito anche in presenza di segnali wireless nelle vicinanze, di altre interfacce ad alta velocità e di disturbi sulle linee di alimentazione. Per catturare in maniera efficiente gli scenari del caso peggiore sono richieste elevate velocità di acquisizione e un sistema di triggering potente.

Le soluzioni di test di Rohde & Schwarz offrono potenti strumenti per la verifica e il debug dei sistemi elettronici e per effettuare le prove di conformità per:

  • Integrità del segnale: test dell’interfaccia
  • Integrità del segnale: test PCB e di interconnessione
  • Debugging a livello di protocollo
  • Test di integrità dell'alimentazione
DDR – memoria a doppia velocità dati

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  • Soluzioni di test per il debugging e la verifica dei progetti
  • Soluzioni di test per le prove di conformità

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USB – Universal Serial Bus

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  • Soluzioni di test per il debugging e la verifica dei progetti
  • Soluzioni di test per le prove di conformità

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PCIe – Peripheral Component Interconnect express

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  • Soluzioni di test per il debugging e la verifica dei progetti
  • Soluzioni di test per le prove di conformità

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Ethernet testing solutions

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  • Test solutions for design verification and debugging
  • Test solutions for compliance testing

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