클록 검증 및 치환

클록 검증 및 치환

지터 및 위상 노이즈 성능 검증

ADC(Analog-to-Digital Converter) 및 DAC(Digital-to-Analog Converter)의 속도는 지난 10년 동안 크게 발전하였습니다. 16비트 분해능에서 초당 10 Gsample에 이르는 샘플링 속도를 지원합니다. 이러한 기기들은 매우 높은 RF 주파수에서 디지털화를 수행하기 때문에 SDR(Software Defined Radio)뿐 아니라 빠른 영상 처리 등이 가능합니다. 그리고 이로 인해 지터 및 노이즈 성능과 관련한 클록 생성 및 테스트 기준이 분명하게 높아졌습니다.

클록 검증 및 치환 솔루션

최적의 클록 소스가 필요할 경우

오늘날의 디지털 설계와 빠른 속도의 데이터 컨버터는 지터가 최소화된 클린 클록이 필요합니다.

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시간 및 주파수 도메인에서 지터 측정 비교

고속 또는 저속으로 움직이는 아티팩트를 구분하기 위해 시간 및 주파수 도메인에 대해 지터 측정 기기를 사용합니다.

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클럭 소스 검증

클럭 소스의 신호 품질은 시스템 성능에 직접적 영향을 미치며, 따라서 검증이 필요합니다.

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교차 상관관계의 1 MHz ~ 50 GHz 다이렉트 다운 컨버전 위상 노이즈 분석기

새로운 위상 노이즈 테스트 솔루션은 다이렉트 다운 컨버전 아날로그 I/Q 믹서 및 Baseband 신호 샘플링으로 1 MHz ~ 50 GHz 주파수 대역을 지원합니다.

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R&S®FSWP Phase Noise Analyzer and VCO Tester

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R&S®RTO2000 오실로스코프

600 MHz ~ 6 GHz의 대역폭을 제공하는 R&S®RTO2000 Oscilloscope는 시간 도메인과 주파수 도메인 테스트에서 모두 뛰어난 성능을 제공합니다.

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First class ADCs thanks to first class signals

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이 동영상은 텍사스 인스트루먼트사의 최신 데이터 컨버터를 사용해 5G NR의 개별 트랜시버를 테스트하는 방법을 시연합니다.

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현재 엔지니어들은 통합 보드를 설계하고 개발하는 과정에서, 더욱 복잡한 과제에 직면하고 있습니다.

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구성요소는 이동성, 연결성, 높은 데이터 전송 속도, 견고성 및 전력 효율성과 같은 까다로운 요구 사항에 대응할 수 있어야 합니다.

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