클록 검증 및 치환

클록 검증 및 치환

지터 및 위상 노이즈 성능 검증

ADC(Analog-to-Digital Converter) 및 DAC(Digital-to-Analog Converter)의 속도는 지난 10년 동안 크게 발전하였습니다. 16비트 분해능에서 초당 10 Gsample에 이르는 샘플링 속도를 지원합니다. 이러한 기기들은 매우 높은 RF 주파수에서 디지털화를 수행하기 때문에 SDR(Software Defined Radio)뿐 아니라 빠른 영상 처리 등이 가능합니다. 그리고 이로 인해 지터 및 노이즈 성능과 관련한 클록 생성 및 테스트 기준이 분명하게 높아졌습니다.

클록 검증 및 치환 솔루션

최적의 클록 소스가 필요할 경우

오늘날의 디지털 설계와 빠른 속도의 데이터 컨버터는 지터가 최소화된 클린 클록이 필요합니다.

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600 MHz ~ 6 GHz의 대역폭을 제공하는 R&S®RTO2000 Oscilloscope는 시간 도메인과 주파수 도메인 테스트에서 모두 뛰어난 성능을 제공합니다.

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