Эффективные испытания с использованием глазковых диаграмм для систем DDR3/DDR4
Для подтверждения соответствия сигналов динамической оперативной памяти (DRAM) спецификациям JEDEC по таким параметрам, как временные характеристики, скорости нарастания и уровни напряжения, необходимо проводить специализированные испытания на соответствие. В рамках проверки и отладки системы важнейшим инструментом для эффективного анализа целостности сигнала в любой цифровой схеме являются измерения глазковых диаграмм. Специфика DDR требует специального решения с эффективным разделением циклов чтения/записи для получения информативных глазковых диаграмм на шине данных DDR.