Radar / EW testing

Fortgeschrittene Techniken für Messungen von Störemissionen mit R&S®FSW-K50

Die Suche nach Störemissionen mit Spektrumanalysatoren gehört zu den anspruchsvollsten Messungen bei der Entwicklung, Verifizierung und Fertigung von HF- und Mikrowellengeräten. HF-Entwickler, insbesondere in den Bereichen Luftfahrt und Verteidigung, müssen Störemissionen mit einem sehr niedrigen Pegel detektieren. Es sind sehr schmale Auflösebandbreiten erforderlich, um Messungen bei geringem Grundrauschen durchzuführen. Dadurch erhöht sich die Messzeit. Selbst mit sehr schnellen Spektrumanalysatoren kann eine Störemissionssuche mehrere Stunden oder sogar Tage dauern.

In diesem White Paper besprechen wir die Grundlagen von Störemissionsmessungen und wie sich die angewandten Parameter auf die Detektionsleistung auswirken können. In der Messapplikation R&S®FSW-K50 Spurious-Messungen kommt eine neue Technik zum Einsatz, mit der sich die Störemissionssuche beschleunigen und einfacher konfigurieren lässt.

Name
Typ
Version
Datum
Größe
Advanced Techniques for Spurious Measurements with R&S®FSW-K50 | 1EF97
Typ
White Paper
Version
0e
Datum
14.07.2017
Größe
901 kB
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