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Entwicklungstests des neuesten Ultrabreitband-Automotive-Chipsatzes von NXP

Dieses Video zeigt eine praktische Demonstration der Labormessung des Einstrahlwinkels des Trimension™ NCJ29D6 UWB-Automotive-ICs von NXP mit einem R&S®CMP200 Radio Communication Tester und der R&S®ATS800R Absorberkammer.

Es wird ein Testaufbau vorgestellt, mit dem die Richtung des Signals vom Testsender zum Testobjekt präzise kontrolliert werden kann. Der R&S®CMP200 Radio Communication Tester sendet mit Hilfe der R&S®ATS800R Messkammer ein genau definiertes UWB-Funksignal an den Prüfling. Die Schirmkammer bietet selbstverständlich ausgezeichnete Isolations- und Absorptionseigenschaften, die eine kontrollierte HF-Umgebung schaffen. Enthalten ist auch ein Präzisions-Drehstand, mit dem ein bekannter Winkel zwischen der Sendeantenne und dem Prüfling eingestellt werden kann, in diesem Fall dem NXP NCJ29D5.

Durch den Vergleich des vom Prüfling angezeigten Einstrahlwinkels mit dem bekannten, in der Kammer eingestellten Winkel lässt sich die Genauigkeit des Prüflings berechnen, und die durch verschiedene Designiterationen erzielten Verbesserungen können exakt bestimmt werden, um den Entwicklungsprozess zu beschleunigen.

Ein weiterer Vorteil dieses Testsystems ist die Möglichkeit der Erzeugung einer Korrekturdatenmatrix während der Kalibrierung, die den Effekt der Antenne charakterisiert und dann ausgleicht. Diese Lookup-Tabelle muss nur einmal berechnet werden und kann dann wiederholt in automatischen Testskripts zum Messen der Performance des isolierten Chipsatzes verwendet werden.

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