Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, PCIe-Tests

PCIe – Peripheral Component Interconnect Express

PCIe – erfolgreiche Verifizierung und Optimierung Ihres Systemdesigns

Designverifizierung und Fehlersuche – Konformitätstests

Die PCIe-Architektur bildet den Kern der meisten Computer-Designs und verbindet die Prozessor- und Speichersubsysteme über den Root-Komplex mit den Endgeräten. Die Nachfrage nach immer höheren Geschwindigkeiten ist die wesentliche Motivation für die Standardisierungsbemühungen der PCI-SIG und der Verwendung dieser Standards in Rechenzentren, PCs und Embedded-Applikationen. In enger Zusammenarbeit mit der PCI-SIG bietet Rohde & Schwarz eine breite Palette an Lösungen für PCIe-Konformitätstests.

Neben Konformitätsprüfungen unterstützen die PCIe-Testlösungen von Rohde & Schwarz auch die effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem Design sowohl auf der Baugruppen- als auch Systemebene – auch in Gegenwart von Funksignalen und anderen Schnittstellen.

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Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Das Deembedding der Messaufnahmen und Kabel spielt für aussagekräftige PCIe-Messungen eine wichtige Rolle. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

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Optimierung von differenziellen Messungen an Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen

Der modulare Tastkopf R&S®RT-ZM bietet Spezialfunktionen, um Gegentakt- und Gleichtaktmessungen sowie massebezogene Messungen durchzuführen. Die Masseverbindung verhindert ein „Floaten“ der Schaltung und sorgt für stabile und reproduzierbare Signale.

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Vergleich von Jitter-Messungen im Zeit- und Frequenzbereich

Der Jitter kann im Zeit- und Frequenzbereich gemessen werden. Oszilloskop-basierte Zeitintervallfehler-Messungen eignen sich für alle Arten von Jitter. Demgegenüber sind Jitter-Messungen mit einem Phasenrauschanalysator auf Taktsignale beschränkt – bieten dafür aber eine unübertroffene Jitter-Empfindlichkeit.

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Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalleitungen mit dem R&S®ZNB

Mit der Option R&S®ZNB-K20 erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der R&S®ZNB genaue Messungen von u.a. Augendiagramm, Anstiegszeit und Laufzeitdifferenz an digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalstrukturen. Zusätzliche Deembedding-Werkzeuge können installiert werden, um die Auswirkungen von Lead-ins und Lead-outs zu beseitigen.

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Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter ist ein wesentlicher Aspekt der Signalintegritätsanalyse. Mit den Optionen R&S®RTP-K12 und R&S®RTO-K12 können Rohde & Schwarz Oszilloskope Zeitintervallfehler-Jitter, periodischen Jitter, Zyklus-zu-Zyklus-Jitter usw. messen und die Ergebnisse als Jitter-Track, Histogramm oder Spektrum anzeigen.

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Verifizierung der tatsächlichen Jitter-Performance von PCIe-Referenztaktsignalen

Da die Datenraten in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs ansteigen, werden die Jitter-Grenzen für das Gesamtsystem enger. Aufgrund der überlegenen Jitter-Empfindlichkeit von Phasenrauschmessplätzen (PNA) wurden mit der PCIe Gen5-Spezifikation PNA-basierte Tests zur Bestimmung der tatsächlichen Jitter-Performance des Taktsignals eingeführt.

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Webinar: PCI Express Gen 3 - Compliance and debug testing

Broadcast date: October 12, 2021

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular, we will be focusing on PCIe Gen 3 interfaces.

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Realtime deembedding
Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Echtzeit-Deembedding eines Signalwegs mit der Option R&S®RTP-K122. Das R&S®RTP erfasst nicht nur bereinigte (Deembedded-)Messkurven, sondern ermöglicht auch das Triggern auf dieses Deembedded-Signal.

Signal integrity measurements with jitter analysis
Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO

Messung des Zeitintervallfehler-Jitters mit der R&S®RTO-K12 Option. Analyse des Zeitintervallfehler-Jitters eines Taktsignals in der Statistik-, Track-, Histogramm- und Spektrumansicht zur Erkennung von Störungen des Taktgebers.

Signal Integrity Measurements
Signalintegritätsanalyse an einem USB-C-Kabel mit dem R&S®ZNA

In Kombination mit der Option R&S®ZNA-K2 Zeitbereichsanalyse und der Option R&S®ZNA-K20 erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der R&S®ZNA Vektornetzwerkanalysator verschiedenste Signalintegritätsmessungen. Das Messobjekt – ein USB-C-Kabel – wird im Frequenz- und Zeitbereich sowie außerdem in der Augendiagrammdarstellung analysiert.

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Signalintegritätstests an differenziellen Signalstrukturen mit dem R&S®ZNB

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