Tests von schnellen digitalen Schnittstellen, USB-Tests

USB – Universal Serial Bus

Systemverifizierung und Fehlersuche an USB-Designs

Die USB-Schnittstelle dient der Verbindung eines Computers mit seinen Peripheriegeräten. Die Standardisierungsbemühungen im USB Implementers Forum (USB-IF) sind durch die Nachfrage nach höheren Datenraten und Ladegeschwindigkeiten sowie die Integration der Thunderbolt- und DisplayPort-Technologie motiviert.

In enger Zusammenarbeit mit dem USB-IF entwickelt Rohde & Schwarz leistungsfähige Testlösungen für Tests von Schnittstellen, Leiterplatten, Kabeln und Steckverbindern sowie für Power-Delivery-Tests. Unsere Testlösungen ermöglichen Ihnen eine effiziente Verifizierung und Fehlersuche an System-Level-Designs sowie die schnelle Markteinführung Ihrer Produkte.

Webinars

USB 3.2 compliance testing

USB 3.2 compliance testing

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular, we will be focusing at USB interfaces. After a quick introduction into USB technology we will be discussing the details of USB 2.0 and 3.2 compliance testing. The webinar will enable you to learn common signal integrity issues, and we will be guiding you through related challenges.

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Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular we will be looking at USB interfaces. We will be starting with an introduction in the purpose, the technology and the different standards and applications of this digital interface. Challenges, specifications and test procedures open the webinar’s test & measurement core.

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Conformance Test failed

Conformance Test failed. What now?

Conformance tests are performed on serial data interfaces such as USB, HDMI and PCI Express to ensure interoperability between electronic devices and accessories. In cases where signal integrity problems are encountered, the R&S®RTP oscilloscope supports root cause analysis by providing powerful tools such as eye diagrams, jitter and noise separation as well as time domain reflectometry.

R&S®RTP164 High-Performance-Oszilloskop

Rohde & Schwarz und Eurofins Digital Testing bringen ein hochmodernes Testkit für Konformitätstestprogramme an Hochgeschwindigkeitsschnittstellen heraus

Der Zuwachs bei Hochgeschwindigkeits-Kommunikationstechniken hat zu einem gestiegenen Bedarf an Konformitäts- und Kompatibilitätstests geführt, die eine stetig wachsende Anzahl an Industriestandards erfüllen müssen. Rohde & Schwarz geht eine Partnerschaft mit Eurofins Digital Testing ein, um mit dem R&S®RTP164 High-Performance-Oszilloskop Zugang zu den neuesten Werkzeugen für die Analyse und Konformitätstests von Hochgeschwindigkeitssignalen zu gewähren. Eurofins Digital Testing plant zudem, Zertifizierungsdienste für Hochgeschwindigkeits-Kommunikationstechniken wie USB anzubieten. Erfahren Sie mehr in unserem Flyer.

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Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Das Deembedding der Messaufnahmen und Kabel spielt für aussagekräftige USB-Messungen eine wichtige Rolle. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

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Optimierung von differenziellen Messungen an Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen

Optimierung von differenziellen Messungen an Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen

Der modulare Tastkopf R&S®RT-ZM bietet Spezialfunktionen, um Gegentakt- und Gleichtaktmessungen sowie massebezogene Messungen durchzuführen. Die Masseverbindung verhindert ein „Floaten“ der Schaltung und sorgt für stabile und reproduzierbare Signale.

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Vergleich von Jitter-Messungen im Zeit- und Frequenzbereich

Vergleich von Jitter-Messungen im Zeit- und Frequenzbereich

Der Jitter kann im Zeit- und Frequenzbereich gemessen werden. Oszilloskop-basierte Zeitintervallfehler-Messungen eignen sich für alle Arten von Jitter. Demgegenüber sind Jitter-Messungen mit einem Phasenrauschanalysator auf Taktsignale beschränkt – bieten dafür aber eine unübertroffene Jitter-Empfindlichkeit.

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Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-LPs mit dem R&S®ZNB

Präzise Messungen an digitalen Hochgeschwindigkeits-LPs mit dem R&S®ZNB

Mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der R&S®ZNB genaue Messungen von u.a. Augendiagramm, Anstiegszeit und Laufzeitdifferenz an digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalstrukturen. Zusätzliche Deembedding-Werkzeuge können installiert werden, um die Auswirkungen von Lead-ins und Lead-outs zu beseitigen.

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Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter ist ein wesentlicher Aspekt der Signalintegritätsanalyse. Mit den Optionen R&S®RTP-K12 und R&S®RTO-K12 können Rohde & Schwarz-Oszilloskope Zeitintervallfehler-Jitter, periodischen Jitter, Zyklus-zu-Zyklus-Jitter usw. messen und die Ergebnisse als Jitter-Track, Histogramm oder Spektrum anzeigen.

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Konformitätsprüfungen von USB Power Delivery mit digitalen Oszilloskopen von Rohde & Schwarz

Konformitätstests für USB Power Delivery mit dem R&S®RTO und R&S®RTE

USB Power Delivery-Konformitätstests zur Bestätigung der ordnungsgemäßen USB PD-Aushandlung zwischen zwei USB Typ-C-Schnittstellen. Die GRL-USB-PD-Analysesoftware von GRL steuert die Prüfmittel und führt die Elektrik- und Protokolltests durch.

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Signal integrity debugging

Signalintegritäts-Debugging an einem USB 3.1-Gerät mit dem R&S®RTP

Augendiagramm-Messungen an einem USB 3.1 Gen1-Gerät mit dem R&S®RTP einschließlich Maskentests und Augenmessungen wie vertikale/horizontale Augenöffnung und Jitter-Histogramm.

USB 3.1 interface debug with realtime deembedding

Fehlersuche an USB 3.1 Gen1-Schnittstellen mit Echtzeit-Deembedding

Signalintegritätsmessungen an einem USB 3.1 Gen1-Gerät. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

Realtime deembedding

Echtzeit-Deembedding mit dem R&S®RTP

Echtzeit-Deembedding eines Signalwegs mit der Option R&S®RTP-K122. Das R&S®RTP erfasst nicht nur bereinigte (Deembedded-)Messkurven, sondern ermöglicht auch das Triggern auf dieses Deembedded-Signal.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO

Messung des Zeitintervallfehler-Jitters mit der Option R&S®RTO-K12. Analyse des Zeitintervallfehler-Jitters eines Taktsignals in der Statistik-, Track-, Histogramm- und Spektrumansicht zur Erkennung von Störungen des Taktgebers.

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Signalintegritätsanalyse an einem USB-C-Kabel mit dem R&S®ZNA

Mit den Optionen R&S®ZNA-K2 Zeitbereichsanalyse und R&S®ZNA-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse ermöglicht der Vektornetzwerkanalysator R&S®ZNA verschiedenste Signalintegritätsmessungen. Das Messobjekt – ein USB-C-Kabel – wird im Frequenz- und Zeitbereich sowie außerdem in der Augendiagrammdarstellung analysiert.

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Augendiagramm-Messungen und Augen-/Maskentests mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse. Diese Option kann zur Analyse von Jitter und Rauschen sowie zur Anwendung von Verstärkung und Entzerrung auf das gemessene Augendiagramm eingesetzt werden.

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Signalintegritätstests an differenziellen Signalstrukturen mit dem R&S®ZNB

Messung von Anstiegszeit, Impedanz, Laufzeitunterschied innerhalb eines Leitungspaars/Laufzeitunterschied zwischen Leitungspaaren usw. mit der Option R&S®ZNB-K20 Erweiterte Zeitbereichsanalyse.

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Konformitätsprüfung eines USB 2.0-Geräts mit dem R&S®RTO. Testautomatisierung mit der Option R&S®RTO-K21 (R&S®ScopeSuite)

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