München 21.04.2026

Rohde & Schwarz veranstaltet im Mai die Online-Konferenz über Leistungselektronik „From Design to Validation“

Rohde & Schwarz veranstaltet am 5. und 6. Mai 2026 die Online-Konferenz über Leistungselektronik „From Design to Validation“. Experten aus Wirtschaft und Wissenschaft werden an diesem kostenlosen Online-Event teilnehmen, um zuverlässige Mess- und Validierungsverfahren für moderne Leistungselektroniksysteme, von diskreten Komponenten bis hin zu netzangebundenen Umrichtern, zu diskutieren.

Auf dem Leistungselektronikmarkt werden strengere Effizienzziele, höhere Leistungsdichten und zunehmende Integration mit großflächigen Stromnetzen immer wichtiger. Dies führt zu nicht idealem Verhalten von Bauteilen, schnellen Schalttransienten bei Komponenten mit großem Bandabstand und immer anspruchsvolleren EMV-Anforderungen. Auf der Konferenz werden messtechnische Lösungen zur Bewältigung dieser Herausforderungen präsentiert, die mit modernen Oszilloskopen, Vektornetzwerkanalysatoren und Präzisionsleistungsanalysatoren umgesetzt werden können.

Die Konferenz wird am 5. Mai mit einer Keynote von Tobias Keller (Hitachi Energy) mit dem Titel „Leistungshalbleiter: die Zukunft der Stromnetze – Leistungsfähigkeit und Zuverlässigkeit für zukünftige Jahrzehnte“ eröffnet. Tobias Keller wird die Qualifizierung von Silizium- und Siliziumkarbid(SiC)-Bauteilen für Hochspannungsnetze, insbesondere das Wärmelastspiel, die Kurzschlussfestigkeit und Daten zur Langzeitzuverlässigkeit, besprechen.

Am 6. Mai wird Veit Hellwig (Infineon Technologies) in einer weiteren Keynote die Auswirkungen der Galliumnitrid(GaN)-Technologie auf Umrichtertopologien für Hochspannungsmotoren behandeln.

Neben den Keynotes umfasst das Programm eine Reihe technischer Vorträge. In einem Vortrag werden Verfahren zur Charakterisierung passiver Komponenten analysiert, um parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten bei Frequenzen über 100 MHz zu bestimmen. Dabei geht es auch um die Auswirkungen dieser parasitären Effekte auf die Umrichterstabilität. In einer anderen Session wird die automatisierte dynamische Charakterisierung von SiC- und GaN-Leistungskomponenten erläutert. Dabei wird gezeigt, wie Doppelimpuls-Testgeräte mit Hochgeschwindigkeits-Digitalumsetzern synchronisiert werden können, um die Messunsicherheit zu reduzieren und rasches Recovery-Verhalten zu erfassen.

Zwei Vorträge sind der elektromagnetischen Verträglichkeit gewidmet. In einem Vortrag erhalten die Teilnehmer praktische Anleitungen zum Einsatz von Nahfeldtastköpfen zur Lokalisierung von gestrahlten Störaussendungsquellen und zum Validieren der Wirksamkeit von EMI-Filterdesigns. Im zweiten Vortrag wird ein vollständiger Workflow zur Messung leitungsgebundener Störaussendungen anhand eines Miniatur-Prototyps unter Verwendung einer Netznachbildung (LISN, Line Impedance Stabilization Network) und eines modernen Mixed-Signal-Oszilloskops demonstriert. Außerdem wird ein Verfahren zum Filterdesign besprochen, das die Zeit-Frequenz-Funktionen des Geräts nutzt.

In einem weiteren Webinar wird der wachsende Bedarf an genauen Wirkungsgradmessungen in Rechenzentrums- und KI-Server-Netzgeräten behandelt. Die Teilnehmer erfahren, wie durch den Einsatz von Präzisions-Leistungsanalysatoren, die verzerrte Wellenformen und rasche Lasttransienten nachverfolgen können, wahre Eingangs- und Ausgangsleistungswerte erhalten werden können, die den Vorgaben der 80 PLUS-Zertifizierung entsprechen.

Der letzte Vortrag hat die Konformität in Bezug auf Oberschwingungsströme und Flicker für netzgekoppelte Niederspannungsprodukte zum Thema. ER geht auf Grenzwerte und Prüfverfahren der Normen IEC/EN 61000-3-2/-3-3 und IEC/EN 61000-3-12/-3-11 ein. Außerdem wird demonstriert, wie integrierte Konformitätsprüfsoftware in Verbindung mit einem Leistungsanalysator automatische Pass/Fail-Entscheidungen liefern kann, und dies von Tests früher Prototypen bis zur endgültigen Typgenehmigung.

Vortragende von Rohde & Schwarz, Hitachi, Infineon, PE-Systems, Würth Elektronik sowie den Universitäten Bremen und Saragossa werden an der Konferenz teilnehmen. Diese Mischung aus Wirtschaft und Wissenschaft soll den Teilnehmern sowohl theoretische Hintergründe als auch praktische Messstrategien vermitteln.

Die Teilnahme an der Konferenz ist kostenlos, erfordert aber eine Anmeldung. Das vollständige Programm, Biografien der Vortragenden und die Anmeldung finden sich unter: http://www.rohde-schwarz.com/power-electronics-conference

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Rohde & Schwarz

Rohde & Schwarz steht in seinen drei Divisionen Test & Measurement, Technology Systems und Networks & Cybersecurity für eine sichere und vernetzte Welt. Seit über 90 Jahren verschiebt der global agierende Technologiekonzern bei der Entwicklung von Spitzentechnologie die Grenzen des technisch Machbaren. Seine führenden Produkte und Lösungen befähigen Kunden aus Wirtschaft, Behörden und hoheitlichem Umfeld zur Gestaltung ihrer technologischen und digitalen Souveränität. Das Familienunternehmen mit Hauptsitz in München handelt unabhängig, langfristig und nachhaltig. Im Geschäftsjahr 2024/2025 (Juli bis Juni) erwirtschaftete Rohde & Schwarz einen Umsatz von 3,16 Milliarden Euro. Zum 30. Juni 2025 betrug die weltweite Zahl der Mitarbeitenden mehr als 15 000.

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