Integridad de señal y de potencia

La estabilidad y la limpieza de las señales de los carriles de alimentación son la base para que todo diseño electrónico pueda alcanzar un rendimiento adecuado. Rohde & Schwarz suministra una amplia gama de soluciones de sobremesa y portátiles para medidas de integridad de potencia.

Las señales que viajan a través de los diseños electrónicos se suelen degradar por efecto de la diafonía, por las limitaciones en el ancho de banda y como consecuencia de discontinuidades en la línea de señal. Eche un vistazo a nuestra amplia selección de soluciones para medir, p. ej., la sincronización, la fluctuación temporal (jitter), las pérdidas de retorno y de inserción, el diagrama de ojo, la diafonía y las componentes no deseadas de la señal.

Soluciones de test y medida para la integridad de potencia

Medidas de integridad de potencia

La electrónica de potencia es una de las partes básicas de todo dispositivo electrónico. Un diseño adecuado resulta fundamental para garantizar el rendimiento de los componentes, de las placas y de los sistemas. Además, otros aspectos como la eficiencia energética y la prolongación de la vida útil de las baterías cada vez adquieren más relevancia.

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Soluciones de test y medida para la integridad de señal

Medidas de líneas digitales de alta velocidad en PCB

A medida que aumentan las velocidades de datos, tanto los aspectos de integridad de la señal de los diseños digitales de alta velocidad como los componentes usados plantean un desafío de magnitud cada vez mayor. Especialmente cuando se trata de altas velocidades, los analizadores vectoriales de redes (VNA) están sustituyendo paulatinamente a las configuraciones tradicionales de reflectometría en el dominio temporal (TDR) para verificar componentes pasivos como conectores, cables, tarjetas impresas, etc. Los analizadores vectoriales de redes brindan al usuario una mayor precisión, velocidad y estabilidad frente a descargas electrostáticas, lo que los convierte en el instrumento por excelencia en este ámbito.

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