Tests de diseños digitales

Tests de diseños digitales

Soluciones de test y medida para la validación y depuración de diseños digitales

La integridad de señal y la integridad de potencia tienen una importancia fundamental en los diseños digitales. El aumento de las velocidades de transmisión y la reducción de las tensiones de alimentación, así como la cada vez mayor densidad de integración, imponen límites más bajos de jitter y de ruido de las señales y los relojes. Además, provocan degradaciones mayores en el canal de transmisión, como pérdidas en función de la frecuencia, reflexiones y diafonía, e intensifican los efectos de las caídas de tensión y del rebote de tierra en las líneas de alimentación. La reducción de las tensiones de alimentación reduce a su vez las tolerancias de perturbación de las líneas, que inducen un jitter y añaden ruido de amplitud a las señales y los relojes.

Rohde & Schwarz ofrece una extensa gama de soluciones de medida para la validación y depuración eficientes de diseños digitales:

  • Integridad de señal: test de interfaces
  • Integridad de señal: medidas de tarjetas impresas e interconexiones
  • Integridad de señal: medidas de estructura en árbol del reloj, PLL y ADC/DAC
  • Medidas de integridad del suministro de corriente
  • Tests de depuración a nivel de protocolo

Soluciones de test para diseños digitales

Integridad de señal

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Soluciones de test para:

  • Tests de interfaz

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Integridad de señal

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Soluciones de test para:

  • Tarjetas impresas
  • Medidas de interconexiones

Más información

Integridad de señal

Integridad de señal

Soluciones de test para:

  • Estructura en árbol del reloj
  • Test de PLL y ADC/DAC

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Test de integridad de potencia

Test de integridad del suministro de corriente

Soluciones de test para:

  • Test de integridad de potencia
  • Tests de suministro de energía

Más información

Tests de depuración a nivel de protocolo

Tests de depuración a nivel de protocolo

Soluciones de test para:

  • Disparo y decodificación de patrones de protocolo

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embedded world 2023

Rohde & Schwarz at Embedded world 2023 in Nuremberg

Test & measurement for embedded systems

Solving complex test and measurement challenges requires innovative solutions from a reliable partner.

Join us at our booth in hall 4 I booth 218 from March 14 to March 16.

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