Test de interfaz digital de alta velocidad, test USB

USB – bus serial universal

Depuración y verificación del sistema de los diseños USB

La interfaz USB se utiliza para conectar ordenadores y dispositivos periféricos. La demanda de velocidades de datos superiores y tiempos de carga menores, sumada a la integración de las tecnologías Thunderbolt y DisplayPort, está impulsando medidas de normalización en el USB Implementers Forum (USB-IF).

Rohde & Schwarz trabaja en estrecha colaboración con el USB-IF para ofrecer potentes soluciones de test de interfaz, placa de circuito impreso, cable y conector, además de tests de suministro de energía. Nuestras soluciones de test le permitirán depurar y verificar el sistema de sus diseños de forma eficaz y lanzar sus productos al mercado en menos tiempo.

Webinars

USB 3.2 compliance testing

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular, we will be focusing at USB interfaces. After a quick introduction into USB technology we will be discussing the details of USB 2.0 and 3.2 compliance testing. The webinar will enable you to learn common signal integrity issues, and we will be guiding you through related challenges.

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Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular we will be looking at USB interfaces. We will be starting with an introduction in the purpose, the technology and the different standards and applications of this digital interface. Challenges, specifications and test procedures open the webinar’s test & measurement core.

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Osciloscopio de alto rendimiento R&S®RTP164

Rohde & Schwarz y Eurofins Digital Testing lanzan un kit de test avanzado para los programas de ensayos de conformidad de interfaces de alta velocidad

Con el avance de las tecnologías de comunicación de alta velocidad ha aumentado la demanda de ensayos de conformidad y compatibilidad con arreglo a una serie de estándares industriales en constante desarrollo. Rohde & Schwarz se ha aliado con Eurofins Digital Testing para proporcionar acceso a las herramientas más avanzadas de análisis de señales de alta velocidad y para ensayos de conformidad mediante el osciloscopio de alto rendimiento R&S®RTP164. Eurofins Digital Testing tiene también previsto ofrecer servicios de certificación para tecnologías de comunicación de alta velocidad, como USB. Obtenga más información en nuestro folleto.

Documentación asociada

Compensación en tiempo real con R&S®RTP

La compensación de los cables y los adaptadores de fijación es importante para efectuar medidas correctas en USB. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de medidas diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona medidas en el modo diferencial y el modo común, así como medidas de terminación única. La conexión de tierra impide la flotación del circuito y garantiza señales estables y reproducibles.

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Comparación de medidas de jitter en el dominio temporal y frecuencial

El jitter se puede medir en los dominios temporal y frecuencial. Si bien las medidas del error del intervalo de tiempo basadas en el alcance permiten medir todos los tipos de jitter, las medidas de jitter basadas en el analizador del ruido de fase se limitan a las señales de reloj, aunque ofrecen una sensibilidad al jitter inigualable.

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Medidas precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Gracias a la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20, R&S®ZNB permite llevar a cabo tests precisos de diagrama de ojo, tiempo de subida, desfase, etc. en estructuras de señal de alta velocidad digital. Se pueden instalar herramientas de compensación adicionales para evitar los efectos de los conductores de entrada y los conductores de salida.

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Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

El jitter es uno de los problemas clave de los análisis de integridad de señal. Con las opciones R&S®RTP-K12 y R&S®RTO-K12, los osciloscopios de Rohde & Schwarz permiten medir el jitter del error del intervalo de tiempo, el jitter del periodo, el jitter ciclo-ciclo, etc. y visualizar los resultados en pantallas de seguimiento, histograma o espectro del jitter.

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Ensayo de conformidad de suministro de energía USB con R&S®RTO y R&S®RTE

Ensayo de conformidad suministro de energía USB para confirmar una correcta negociación USB PD entre dos interfaces USB de tipo C. El software de análisis GRL-USB-PD de GRL controla los equipos de prueba y ejecuta las pruebas eléctricas y de protocolo.

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Signal integrity debugging

Depuración de la integridad de la señal en un dispositivo USB 3.1 con R&S®RTP

Medidas de diagrama de ojo en un dispositivo USB 3.1 Gen1 con R&S®RTP, incluidos tests con máscaras y medidas de ojo, como la altura y ancho de ojo y el histograma del jitter.

USB 3.1 interface debug with realtime deembedding

Depuración de una interfaz USB 3.1 Gen1 con compensación en tiempo real

Medidas de la integridad de la señal en un dispositivo USB 3.1 Gen1. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

Realtime deembedding

Compensación en tiempo real con R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Análisis del jitter con R&S®RTO

Medida del jitter del error del intervalo de tiempo con la opción R&S®RTO-K12. Análisis del jitter del error del intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar perturbaciones en el reloj.

Signal Integrity Measurements

Análisis de integridad de la señal en un cable USB-C con R&S®ZNA

En combinación la opción de dominio temporal R&S®ZNA-K2 y la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNA-K20, R&S®ZNA VNA le ofrece una gran diversidad de medidas de integridad de señal. El dispositivo bajo prueba, un cable USB-C, se analiza en el dominio frecuencial y temporal, así como en la representación de ojo de diagrama.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Análisis de diagrama de ojo con R&S®ZNB: introducción

Medidas de diagrama de ojo y test con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar el jitter y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojo medido.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Análisis de diagrama de ojo con R&S®ZNB: configuración de la toma de medidas

Medidas de diagrama de ojo y test con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar el jitter y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojo medido.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Test de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con R&S®ZNB

Medidas del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.

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Ensayo de conformidad de un dispositivo USB 2.0 con R&S®RTO. Automatización del test con la opción R&S®RTO-K21 (R&S®ScopeSuite)

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