Test delle interfacce digitali ad alta velocità, test USB

USB – Universal Serial Bus

Verifica e debug efficiente dei progetti con interfacce USB

L’interfaccia USB è utilizzata per collegare computer e dispositivi periferici. La richiesta di una maggiore velocità di trasmissione dei dati e della possibilità di ricaricare i dispositivi connessi più rapidamente, unita all’integrazione delle tecnologie Thunderbolt e DisplayPort, sono al centro dell'evoluzione degli standard definiti da USB Implementers Forum (USB-IF).

Rohde & Schwarz lavora a stretto contatto con l'associazione USB-IF per fornire potenti soluzioni di misura per effettuare i test sulle interfacce USB, i circuiti stampati, i cavi e connettori, compresi quelli sulla capacità di erogazione della potenza. Le nostre soluzioni di misura e collaudo vi aiutano verificare in modo efficiente i progetti a livello di sistema e ad eseguirne il debugging, affinché i vostri prodotti possano essere introdotti sul mercato più rapidamente.

Webinar

Webinar: Test di conformità elettrica USB 3.2

Test di conformità elettrica USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità.

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Misure di conformità USB 3.2

Misure di conformità USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità. In particolare, ci concentreremo sulle interfacce USB. Dopo una rapida introduzione alla tecnologia USB, discuteremo i dettagli dei test di conformità USB 2.0 e 3.2. Il webinar vi permetterà di conoscere i problemi più comuni di integrità del segnale e vi guiderà attraverso le relative sfide.

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Test di conformità e debug dell'integrità del segnale delle interfacce USB 3.2

Test di conformità e debug dell'integrità del segnale delle interfacce USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità. In particolare, ci occuperemo delle interfacce USB. Inizieremo con un'introduzione allo scopo, alla tecnologia e ai diversi standard e applicazioni di questa interfaccia digitale. Sfide da affrontare, specifiche da rispettare e procedure di test aprono il nucleo centrale di test e misura del webinar.

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Test di conformità fallito

Test di conformità fallito. E adesso?

I test di conformità vengono eseguiti su interfacce dati seriali come USB, HDMI e PCI Express per garantire l'interoperabilità tra dispositivi elettronici e accessori. Nei casi in cui si riscontrano problemi di integrità del segnale, l'oscilloscopio R&S®RTP supporta l'analisi delle cause principali fornendo strumenti potenti come i diagrammi a occhio, la separazione del jitter e del rumore, nonché la riflettometria nel dominio del tempo.

Oscilloscopio ad alte prestazioni R&S®RTP164

Rohde & Schwarz ed Eurofins Digital Testing offrono un kit di test avanzato per facilitare l'esecuzione delle prove di conformità sulle interfacce ad alta velocità

L'evoluzione delle tecnologie di comunicazione ad alta velocità ha fatto crescere la richiesta di test di conformità e compatibilità, che devono rispettare un numero sempre più numeroso di standard industriali. Rohde & Schwarz collabora con Eurofins Digital Testing nello sviluppo di un kit che facilita l'esecuzione delle prove di conformità e l'analisi dei segnali ad alta velocità con l'oscilloscopio ad alte prestazioni R&S®RTP164. Eurofins Digital Testing ha anche in programma di fornire servizi di certificazione per tecnologie di comunicazione ad alta velocità come USB. Per maggiori informazioni, leggete il nostro volantino.

Documenti MOI
Metodo di implementazione (MOI) per il test del cavo USB 3.2 legacy

Metodo di implementazione (MOI) per il test del cavo USB 3.2 legacy

Questa nota applicativa descrive i metodi di implementazione (MOI) per effettuare test di conformità precisi, rapidi e privi di errori sui cavi legacy USB 3.2 per i tipi di connettore della famiglia USB Type A, Type B e Micro. Basata sulla segnalazione a 5 Gbps e 10 Gbps per corsia con analizzatori di reti vettoriali di Rohde & Schwarz.

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Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to Type-C cable assemblies supporting USB4 Gen3, USB4 Gen2, USB 3.2 Gen2, USB3.2 Gen1, and USB2.0.

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De-embedding in tempo reale con l'oscilloscopio R&S®RTP

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Il de-embedding dei cavi e delle attrezzature di test è una tecnica molto importante per effettuare misure corrette sulle interfacce USB. Equipaggiato con l’opzione R&S®RTP-K122, l'oscilloscopio R&S®RTP offre la funzione de-embedding in tempo reale per misurare ed eseguire il trigger su segnali con de-embedding in tempo reale.

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Ottimizzazione di misure differenziali su interfacce ad alta velocità

Ottimizzazione di misure differenziali su interfacce ad alta velocità

Il sistema di sonde modulari R&S®RT-ZM permette di effettuare misure in modalità differenziale e di modo comune, nonché misure riferite a massa (single-ended). La connessione a massa impedisce al circuito di fluttuare e garantisce segnali stabili e riproducibili.

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Confronto tra le misure di jitter nel dominio del tempo e della frequenza

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Il jitter può essere misurato nei domini del tempo e della frequenza. Mentre le misure di TIE (Time Interval Error) effettuate con l'oscilloscopio consentono di valutare tutti i tipi di jitter, le misure di jitter basate su un analizzatore di rumore di fase sono limitate ai segnali di clock, ma offrono una sensibilità di jitter senza rivali.

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Misure precise su schede digitali ad alta velocità con l'analizzatore R&S®ZNB

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Equipaggiato con l’opzione per le misure estese nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20, l'analizzatore R&S®ZNB permette di effettuare test accurati sul diagramma a occhio, tempi di salita, disallineamento, ecc. su strutture di segnali digitali ad alta velocità. Ulteriori strumenti di de-embedding possono essere installati per rimuovere gli effetti delle connessioni di ingresso e di uscita.

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Analisi del jitter con l’oscilloscopio R&S®RTO

Analisi del jitter con l’oscilloscopio R&S®RTO

Il jitter è un problema fondamentale per l’analisi dell'integrità del segnale. Con le opzioni R&S®RTP-K12 e R&S®RTO-K12, gli oscilloscopi Rohde & Schwarz possono misurare il jitter TIE, il jitter del periodo, il jitter tra ciclo e ciclo, ecc. e offrono la possibilità di visualizzare i risultati secondo varie modalità, come ad esempio istogramma, spettro o traccia del jitter.

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Misure con diagrammi a occhio su un dispositivo USB 3.1 Gen1 con l'oscilloscopio R&S®RTP, compresi i test con maschera e le misure sui parametri dell'occhio, come altezza e larghezza e l’istogramma di jitter.

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Debugging dell’interfaccia USB 3.1 Gen1 con de-embedding in tempo reale

Misure di integrità del segnale su un dispositivo USB 3.1 Gen1. Con l’opzione R&S®RTP-K122, l'oscilloscopio R&S®RTP offre la funzione di de-embedding in tempo reale per misurare e far scattare il trigger su segnali con de-embedding in tempo reale.

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De-embedding in tempo reale con l'oscilloscopio R&S®RTP

De-embedding in tempo reale di un percorso di segnale con l’opzione R&S®RTP-K122. L'oscilloscopio R&S®RTP non solo acquisisce forme d’onda con de-embedding, ma consente anche di impostare il trigger su questo segnale con de-embedding.

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Misura del jitter TIE con l’opzione R&S®RTO-K12. Analisi del jitter TIE (Time Interval Error) di un segnale di clock in modalità statistica, tracciatura, istogramma e vista dello spettro per rilevare disturbi sul clock.

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In combinazione con l’opzione per la misura nel dominio del tempo R&S®ZNA-K2 e l’opzione per le misure estese nel dominio del tempo R&S®ZNA-K20, l'analizzatore di segnali vettoriali R&S®ZNA offre una varietà di misure di integrità del segnale. Il dispositivo in prova, un cavo USB-C, viene analizzato nel dominio del tempo e della frequenza, oltre che con la rappresentazione con diagramma a occhio.

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