目次
1 まえがき
2 はじめに
3 定義済みのセットアップ例
3.1 定義済み測定器セットアップの見つけ方
3.2 基本設定
3.3 測定に関する注意
3.4 規格
3.5 公称条件 - 規格テスト条件
4 線形歪み測定
4.1 振幅周波数応答
4.1.1 UPV/UPPの信号発生器を使用した掃引測定
4.1.2 FFTを使用した周波数応答測定
4.1.3 レベルの異なる周波数応答測定
4.2 位相/群遅延測定
4.2.1 位相周波数応答の測定
4.2.2 2つのステレオチャネルの位相差測定
4.2.3 群遅延対周波数の測定
4.3 複合測定
4.3.1 1つのディスプレイでの振幅/位相周波数応答
4.3.2 1つのディスプレイでの群遅延/振幅周波数応答
5 非線形歪み測定
5.1 全高調波歪み(THD)
5.2 全高調波歪み+雑音(THD)
5.3 相互変調
5.4 差周波数歪み(DFD)
5.5 動的相互変調(DIM)
5.6 FFT解析
6 干渉の測定
6.1 S/N比
6.2 クロストーク(チャネル間のせパレーション)
7 アナログ/デジタルインタフェースの測定
7.1 クリッピングレベル
7.2 A/Dコンバーターのリニアリティー
7.3 A/Dコンバーターのリニアリティー偏差
7.4 D/Aコンバーターのリニアリティー
7.5 D/Aコンバーターのリニアリティー偏差
7.6 アナログ/デジタルシステムの信号遅延
8 参考資料
9 オーダー情報