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高度なディエンベディング - 非同軸DUTの高精度なVNA測定を実現するためのフィクスチャの正確なモデリング

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このウェビナーは、高速デジタルエレクトロニクスの設計およびテストに携わるエンジニアを対象としています。設計を検証する前に、VNAを校正して確実にDUTのみを測定できるようにする必要があります。同軸アダプターを使用しているときには、校正を簡単に実行することができます。しかし、プリント基板に搭載されているような多くのDUTは同軸アダプターを備えていないため、フィクスチャを使用して特殊なコネクタに取り付ける必要があります。Sパラメータのディエンベディングを使用すれば、フィクスチャ効果およびリードインを正確に補正することができます。

最初に、Sパラメータと校正の基本について簡単に紹介します。フィクスチャ補正手法の概要についても説明します。ウェビナーの主要部分では、IEEE STD 370で定義されている高度なディエンベディング手法とフィクスチャモデリングを紹介してデモします。ディエンベディングを用いたPCBテスト、コネクタ・テストフィクスチャ補正、ケーブル・テストフィクスチャ補正、SoCテストフィクスチャ補正、同軸コネクタのないRFデバイスなどのユースケースについて解説します。実践的な例とデモにより、手法とユースケースを紹介します。

Joern Pfeifer studied Electronics Engineering at the University of Applied Sciences in Emden, Germany, and graduated with a degree in High Frequency Engineering. As an Application Engineer, he joined Rohde & Schwarz in 2016 and focuses on high speed digital design applications. He is a contributing member of the OPEN Alliance Automotive Ethernet TC9 working group.

Joern Pfeifer