PCI Express Gen 3 - コンプライアンスおよびデバッグテスト

PCI Express Gen 3 - compliance and debug testing

このウェビナーは、高速デジタルデザインおよびテストに携わるエンジニアを対象としています。特に、PCIe Gen 3インタフェースに焦点を当てて解説します。PCIeテクノロジーについて概観した後、コンプライアンス、プロトコルトリガ/デコード、シグナルインテグリティーのデバッグを目的としたPCIeテストについて説明します。


Jithu Abraham works for Rohde & Schwarz as a product manager for the UK, Ireland and the Benelux region, specializing in oscilloscopes. He enjoys all aspects of high-speed digital, wireless communication, efficient power conversion and all the challenges they bring. Jithu holds an engineering degree in electronics and communication from the Anna University in India and a master’s degree in RF systems from the University of Southampton. He has been working for Rohde & Schwarz for over 12 years.

Jithu Abraham