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PCI Express Gen 3 - コンプライアンスおよびデバッグテスト

PCI Express Gen 3 - compliance and debug testing

このウェビナーは、高速デジタルデザインおよびテストに携わるエンジニアを対象としています。特に、PCIe Gen 3インタフェースに焦点を当てて解説します。PCIeテクノロジーについて概観した後、コンプライアンス、プロトコルトリガ/デコード、シグナルインテグリティーのデバッグを目的としたPCIeテストについて説明します。

最初に、システムの相互運用性を検証します。デコード、シリアルトリガ、アイダイアグラム・テスト、ディエンベディング、インピーダンス制御、ジッタ解析について詳しく解説します。これらはすべて、コンプライアンステストに不合格になった場合に、根本原因を特定するのに役立ちます。実践的な例とデモを用いて、簡単で信頼性の高いPCIeテストを紹介します。

Jithu Abraham works for Rohde & Schwarz as a product manager for the UK, Ireland and the Benelux region, specializing in oscilloscopes. He enjoys all aspects of high-speed digital, wireless communication, efficient power conversion and all the challenges they bring. Jithu holds an engineering degree in electronics and communication from the Anna University in India and a master’s degree in RF systems from the University of Southampton. He has been working for Rohde & Schwarz for over 12 years.

Jithu Abraham