Minimizing the impact of accessories when testing 5G RF components

4月 25, 2018

5Gのわかりやすい解説 - 5G RFコンポーネントをテストする際のアクセサリの影響の最小化

高い周波数(特に5G用のミリ波帯)では、パワーアンプやフィルターなどのRFコンポーネントやプロトタイプ・トランシーバー・モジュールのテストが、一層複雑化しています。テスト機器を校正して、アクセサリの影響を最小限に抑えるにはコストも時間もかかり、パワーレベルや周波数レンジを変更した場合には通常、再校正が必要でした。ローデ・シュワルツのR&S®SMW200A ベクトル信号発生器とR&S®FSW シグナル・スペクトラム・アナライザを使用すれば、被試験デバイス(DUT)への信号経路を非常に簡単に校正できます。このビデオのデモをご覧ください。

5Gのわかりやすい解説ビデオシリーズでは、要件、タイムライン、周波数と波形の候補など、5Gに関連する主要なトピックについて説明します。

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