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このアプリケーションノートでは、R&S ZNA、ZNB、ZNBT、およびZND ベクトル・ネットワーク・アナライザを用いてそのようなリードイン/リードアウト構造を正確に特性評価してディエンベディングするための実践的なヒントを提供します。
9月 19, 2022 | AN 番号 1SL367
Instrument Security for R&S®ZNA
ZNA/ZVA - ZCxxxコンバーターの取り付け
ZNA、ZNB、ZND - 掃引終了後に電源をオフにしますか?
ZNA/ZNB: Export all mixed mode S-Parameters
Rohde & Schwarz Getting Started with the R&S®ZNA Vector Network Analyzer
測定品質を次の領域へ R&S®ZNAは、ローデ・シュワルツの新しいハイエンドのベクトル・ネットワーク・アナライザです。優れたRF性能、最高の精度、低トレースノイズを実現しています。 R&S®ZNAは、ローデ・シュワルツの新しいハイエンドのベクトル・ネットワーク・アナライザです。優れたRF性能、最高の精度、低トレースノイズを実現しています。R&S®ZNAを使用すれば、多くの困難な測定作業に対応できます。 製品ビデオ, ZNA, ネットワーク・アナライザ, ベクトル・ネットワーク・アナライザ, ZNA, 電子計測, 相互変調測定, ミキサーの基本とスカラーミキサー測定, 群遅延測定 測定品質を次の領域へ
以下に添付されているpdfドキュメントに、ツールのインストール方法とHMP電源へのリモート接続の設定方法が記載されています。
特定のチャネルのトレースをCSVなどの1つのファイルにエクスポートするにはどうすればいいですか?
独自の操作コンセプト ローデ・シュワルツのR&S®ZNAは、タッチのみのデュアルスクリーン操作コンセプトを搭載した初のベクトル・ネットワーク・アナライザです。 ローデ・シュワルツのR&S®ZNAは、タッチのみのデュアルスクリーン操作コンセプトを搭載した初のベクトル・ネットワーク・アナライザです。ズーム、トレースの移動、マーカーの追加には直感的なタッチジェスチャーを使用します。 ZNAビデオ, ネットワーク・アナライザ, ベクトル・ネットワーク・アナライザ, ZNA, 電子計測, 相互変調測定, ミキサーの基本とスカラー測定, 群遅延測定 独自の操作コンセプト
このビデオでは、エンベディッドLOを持つ周波数コンバーターの測定をR&S®ZNAで行う方法を解説します。 このビデオでは、エンベディッドLOを持つ周波数コンバーターの測定をR&S®ZNAで行う方法を解説します。このようなデバイスの群遅延測定に関するR&S®ZNAソリューションの利点として、LOトラッキング機能やデュアルLOコンセプトが紹介されます。 ネットワーク・アナライザ, ベクトル・ネットワーク・アナライザ, ZNA, 電子計測, 相互変調測定, ミキサーの基本とスカラー測定, 群遅延測定 このビデオでは、エンベディッドLOを持つ周波数コンバーターの測定をR&S®ZNAで行う方法を解説します。
9月 15, 2023
ローデ・シュワルツとIMST社がEuMW 2023において、衛星ターミナル向けアクティブ・アンテナアレイのOTA試験をデモンストレーションまたR&S ZNAベクトル・ネットワーク・アナライザにより、DUTを総合的にテストして、高い信頼性で特性評価できるようにしています。さらに R&S AMS32 ソフトウェアが、遠方界および近傍界の振幅や位相分布などの技術的パラメータほのか、エラーベクトル振幅(EVM)といったメトリックを測定して、デジタル変調トランシーバ性能の特性を明らかにします。 今回DUTとしたSANTANA IVモジュール(FKZ 50RK1925)は、IMST社が設計したスマートなアンテナ・ターミナルです。電気的制御によるビーム・ステアリング機能を備えたアンテナであり、いっさい機械部品を動かすことなくビーム形状と指向角を電気的に調節できます。この送信アンテナアレイは、二重直線偏波と円偏波に対応した64個のエレメントからなります。
I got a calibration kit with a sliding match standard. But there are no correction values for the NWA supplied.
独自なDUT指向の操作 ローデ・シュワルツのR&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザでは、ユーザーフレンドリーなDUT指向の操作が可能です。DUT中心モードでは、まず、ユーザーが増幅器やミキサーなどのDUTタイプを選択します。次に、測定器が順を追って、必要な測定の選択と設定をユーザーに求めます。 ローデ・シュワルツのR&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザでは、ユーザーフレンドリーなDUT指向の操作が可能です。DUT中心モードでは、まず、ユーザーが増幅器やミキサーなどのDUTタイプを選択します。次に、測定器が順を追って、必要な測定の選択と設定をユーザーに求めます。 ZNAビデオ, ネットワーク・アナライザ, ベクトル・ネットワーク・アナライザ, ZNA, 電子計測, 相互変調測定, ミキサーの基本とスカラー測定, 群遅延測定 独自なDUT指向の操作
R&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザによる設定および測定を紹介しながら、テストフィクスチャに統合されているPCIe5コネクタのディエンベディングをデモします。 R&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザによる設定および測定を紹介しながら、テストフィクスチャに統合されているPCIe5コネクタのディエンベディングをデモします。R&S®ZNAの自動校正を実行し、挿入損失とリターンロスを測定しながらテストフィクスチャの品質を確認します。PCIe5コネクタを追加した後で、テストセットアップ全体の主要なパラメータを、タイムドメインおよび周波数ドメインで測定します。R&S®ZNAのディエンベディングツールを使用して、フィクスチャの結果を除去して、コネクタのみの結果を取得します。
I perform a calibration with remote commands. With the command to start the calibration sweep with a short standard I get this error message. What is the problem?
When I export the time domain trace the stimulus values are in Hz, but not in seconds as shown on the screen. How can I get the export in time or distance?
このビデオでは、R&S®ZNAでスカラーミキサー測定を実行する方法を実演します。 このビデオでは、R&S®ZNAでスカラーミキサー測定を実行する方法を実演します。ミキサーウィザードでの測定セットアップの設定、校正、実行する測定の代表的な結果などについて説明します。 ビデオ,ネットワーク・アナライザ, ベクトル・ネットワーク・アナライザ, ZNA, 電子計測, 相互変調測定, ミキサーの基本とスカラー測定, 群遅延測定 このビデオでは、R&S®ZNAでスカラーミキサー測定を実行する方法を実演します。
ZNAを一定CW信号の真の差動信号発生器として使用したいと考えています。
このビデオでは、R&S®ZNAで被試験デバイス(この例では増幅器)の相互変調測定を行う方法を解説します。 このビデオでは、R&S®ZNAで被試験デバイス(この例では増幅器)の相互変調測定を行う方法を解説します。設定、R&S®NRP パワー・センサを使用した校正、測定セットアップの確認のための簡単なヒントについて紹介します。 ビデオ, ZNA, 増幅器の相互変調測定 このビデオでは、R&S®ZNAで被試験デバイス(この例では増幅器)の相互変調測定を行う方法を解説します。
ロードプル, VNA, ZNA, ベクトルレシーバー, チューナー, デバイス特性 Maury MicrowaveのチューナーおよびIV CADソフトウェアと、R&S ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザを組み合わせて使用すれば、ベクトルレシーバー・ロードプルを簡単に測定できます。
Test & Mesure, Analyseurs de réseaux vectoriels Visionnez en replay le webinar Les basiques du ZNA en 30 minutes. Regardez maintenant.
Jul 19, 2022
Rohde & Schwarz announces on-wafer device characterization test solutionRohde & Schwarz now offers a test solution for full RF performance characterization of the DUT on-wafer which combines the powerful R&S ZNA vector network analyzer from Rohde & Schwarz with industry-leading engineering probe systems from FormFactor. As a result, semiconductor manufacturers can perform reliable and repeatable on-wafer device characterization in the development phase, during product qualification and in production.
パルスの基礎 この最終ビデオでは、パルスを時間に応じて解析できる、ZNAネットワーク・アナライザの特殊なモードを紹介します。このモードでは、RFパルスの「オンタイム」中に発生している事象をより高い分解能で解析することができます。 この最終ビデオでは、パルスを時間に応じて解析できる、ZNAネットワーク・アナライザの特殊なモードを紹介します。このモードでは、RFパルスの「オンタイム」中に発生している事象をより高い分解能で解析することができます。 ZNA, パルスの基礎 ベクトル・ネットワーク・アナライザによるパルスド測定の実行
既存のリミットラインがあります。垂直オフセットを適用することはできますか?
すべてのトレースのデータをまとめて問い合わせる方法はありますか?
VNA - 校正でのスライディングマッチは本当に必要か?