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一般検索を使用して、製品、ソリューション、ダウンロードに関連する情報をすばやく検索できます。キーワードを入力し、カテゴリを選択し、アクティブなサブカテゴリから選択して、必要な情報を入手できます。
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53 結果
R&S®LCX LCRメータは汎用的かつ非常に正確で、測定を短時間で実行することができます。これは、研究、開発および製造における困難なアプリケーションに最適です。2種類のモデルとさまざまなオプションは、最大10 MHzのテスト信号周波数を使用してアプリケーションに対応します。内部および外部のバイアス機能、包括的な解析オプション、および汎用的なテストフィクスチャにより、アプリケーションを幅広く拡張することができます。
The R&S®LCX LCR meters are versatile, extremely accurate and perform measurements quickly. They are ideal for challenging applications in research, development and production. Two instrument models and various options cover applications with a test signal frequency of up to 10 MHz. Internal and external bias functions, comprehensive analysis options and versatile test fixtures expand the wide range of possible applications.
R&S®LCX100 LCRメータとR&S®LCX200 LCRメータは、広い周波数レンジにわたって複素インピーダンスとその成分値を正確に測定します。
3月 14, 2022 | AN 番号 1GP132
初めての測定に役立つヒントとテクニック
抵抗、キャパシタ、インダクターは、電子回路の中で最も基本的な部品であり、適切かつ正確に機能することが求められます。そのため、回路デザインでは、これらの部品を徹底的にテストする必要があります。通常、テストには、ラボや製造現場に欠かせないLCRメータを使用します。 このアプリケーションノートでは、キャパシタとインダクターの基本的な測定を正確かつ確実に行う方法について説明します。
2月 22, 2024 | AN 番号 1GP142
Discover basic measurement instruments for every workbench. Explore our selection of digital multimeters, LCR meters, impedance analyzers and power analyzers.
このアプリケーションノートでは、DC電源R&S®NGL200、R&S®NGM200、R&S®NGP800、R&S®NGU201、R&S®NGU401と、LCRメータR&S®LCX100およびR&S®LCX200を対象としています。
5月 19, 2022 | AN 番号 1GP135
ローデ・シュワルツのDC電源およびR&S®LCX LCRメータのウェブページ、VNC、FTP
4月 27, 2023
絶縁型スイッチング電源(SMPS)を設計する場合、高周波変圧器は重要な構成要素となります。リーケージインダクタンスは、カスタマイズされた変圧器を使用する設計の場合、効率、スイッチング素子の最大定格電圧、EMIを含む多くの設計パラメータの制御に不可欠です。この寄生成分の正確な測定は必須です。R&S®LCX LCRメータは、この困難な測定タスクに最適です。
2月 15, 2022
Models: R&S®LCX100, R&S®LCX200
Models: R&S®LCX100, R&S®LCX200
R&S®LCX200 with R&S®LCX-K201 frequency upgrade - Fact Sheet カタログおよびデータシート
Accuracy estimation for R&S®LCX LCR meters - White Paper カタログおよびデータシート White Paper
R&S®LCX200 versus Hioki IM3536 - Comparison Sheet カタログおよびデータシート
R&S®LCX100 versus Keysight E4980AL-032 - Comparison Sheet カタログおよびデータシート
R&S®LCX200 versus Keysight E4980A - Comparison Sheet カタログおよびデータシート
R&S®LCX200 versus Keysight E4980AL-052 - Comparison Sheet カタログおよびデータシート
Describes all instrument functions and remote control commands, including measurement and programming examples.
Provides information on security issues when working with the R&S®LCX LCR meter in secure areas.
Provides the information required to prepare the instrument for use and start working.
The R&S®LCX-Z5 test fixture is designed for measuring transformers in combination with the measurement functions of the R&S®LCX LCR meters. The R&S®LCX-Z5 test fixture is designed for measuring transformers in combination with the measurement functions of the R&S®LCX LCR meters. Transformer Testing, R&S®LCX200 and R&S®LCX-Z5 Transformer Testing With R&S®LCX200 and R&S®LCX-Z5
R&S®LCX LCRメータは、高解像度のタッチスクリーン、最大周波数10 MHz、多彩な測定機能、およびロギング機能を備えています。 R&S®LCX LCRメータは、高解像度のタッチスクリーン、最大周波数10 MHz、多彩な測定機能、およびロギング機能を備えています。 LCX, コンポーネントテスト, LCX100, R&S®LCX200, 主な特長 R&S®LCX LCRメータは、高解像度のタッチスクリーン、最大周波数10 MHz、多彩な測定機能、およびロギング機能を備えています。
R&S®LCX-K108オプションにより、最大10 Vの外部DC電圧バイアスおよび最大200 mAの内部DCバイアス電流をDUTに印加できます。 R&S®LCX-K108オプションにより、最大10 Vの外部DC電圧バイアスおよび最大200 mAの内部DCバイアス電流をDUTに印加できます。 LCX, コンポーネントテスト, LCX-K108 拡張バイアス機能 R&S®LCX-K108オプションにより、最大10 Vの外部DC電圧バイアスおよび最大200 mAの内部DCバイアス電流をDUTに印加できます。
R&S®LCX LCRメータ用の掃引ツールを使用すれば、テスト信号の周波数、レベル、DCバイアスを掃引することにより、ダイナミックインピーダンス測定を実行できます。 R&S®LCX LCRメータ用の掃引ツールを使用すれば、テスト信号の周波数、レベル、DCバイアスを掃引することにより、ダイナミックインピーダンス測定を実行できます。 LCX, LCR, 掃引ツール R&S®LCX LCRメータ用の掃引ツールを使用すれば、テスト信号の周波数、レベル、DCバイアスを掃引することにより、ダイナミックインピーダンス測定を実行できます。
The R&S®LCX Z1/Z2/Z3/Z4/Z5 test fixtures from Rohde & Schwarz can perform measurements on a wide range of components. The R&S®LCX Z1/Z2/Z3/Z4/Z5 test fixtures from Rohde & Schwarz can perform measurements on a wide range of components. R&S LCX Test Fixtures. The R&S LCX Z1/Z2/Z3/Z4/Z5 test fixtures from Rohde&Schwarz can perform measurements on a wide range of components
Oct 01, 2024 | プレスリリース | Test & measurement
Rohde & Schwarz showcases its cutting-edge test solutions for consumer electronics at CETEX 2024 in AmsterdamRohde & Schwarz exhibits advanced T&M solutions that address emerging challenges in consumer electronics development at CETEX Consumer Electronics Test & Development Forum and Expo at RAI in Amsterdam.
Apr 29, 2025 | プレスリリース | Test & measurement
Rohde & Schwarz presents its advanced solutions for power electronics testing and characterization at PCIM Expo 2025Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions and advanced techniques for testing and analyzing power electronic systems and components at PCIM Expo 2025 in Nuremberg, Germany. At the company’s booth (hall 7, booth 166), the spotlight will be on solutions utilizing the company’s cutting-edge test instruments to address the challenges of debugging next generation wide bandgap semiconductors like GaN and SiC.