Испытания целостности сигнала

Целостность сигнала: испытания печатных плат и межсоединений

Для обеспечения целостности сигнала в канале передачи данных необходимо надлежащее проектирование трасс на печатной плате, межслойных переходов, разъемов и кабелей. Эффективность обычно характеризуется вносимыми и обратными потерями, а также перекрестными помехами на ближнем конце (NEXT) и перекрестными помехами на дальнем конце (FEXT). Для анализа потенциального тракта связи по ЭМП и ЭМВ часто указывается и должно испытываться преобразование режима, например из дифференциального в синфазный. Параметры частотной области также трансформируются во временную область, что позволяет видеть разрывы и импеданс в зависимости от структуры сигнала, а также время нарастания/спада сигнала и сдвиг фазы внутри пары и между парами. Также часто выполняются испытания с помощью глазковых диаграмм и глаз-масок на базе измеренных S-параметров.

Во избежание трудоемкой калибровки TRM/TRL с применением нескольких стандартов необходимо исключение для точного определения характеристик вводов и выводов ИУ (испытуемого устройства). Это позволяет исключить вводы и выводы из измерения, благодаря чему можно выполнить точные измерения ИУ. Определенный ввод также можно использовать для исключения этого сигнального тракта в рамках измерения с помощью осциллографа.

Опыт работы во временной и частотной областях и тесное взаимодействие с соответствующими организациями по стандартизации позволяют компании Rohde&Schwarz предоставлять широкий ассортимент решений по проверке целостности сигналов для испытаний печатных плат и межсоединений, а также для определения характеристик вводов для использования в осциллографах с целью исключения из результатов измерения.

Electronic-design-signal-integrity-eye-test_-poster-rohde-schwarz_1440.jpg

Постер «Испытания целостности сигнала с помощью глазковых диаграмм»

На этом постере приведены инструкции по измерениям целостности сигнала с помощью глазковых диаграмм, проводимым на передатчиках или приемниках, и о том, как получить глазковую диаграмму с помощью осциллографов и векторных анализаторов цепей.

Используйте этот постер в своей лаборатории в качестве справочника. Зарегистрируйтесь для загрузки файла PDF или получения печатной версии для своей лаборатории.

Вебинары по испытаниям печатных плат и межсоединений

Вебинар «Выбор, определение характеристик и компенсация цепей дифференциальных пробников для точных измерений высокоскоростных проводников печатных плат»

Вебинар «Выбор, определение характеристик и компенсация цепей дифференциальных пробников для точных измерений высокоскоростных проводников печатных плат»

В этом вебинаре рассматриваются основные аспекты, важные для проведения точных измерений высокоскоростных проводников печатных плат с помощью дифференциальных пробников.

Больше информации

Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

Вебинар «Расширенное исключение цепей — точное моделирование испытательных приспособлений для точных измерений некоаксиальных ИУ с помощью ВАЦ»

Этот вебинар предназначен для инженеров, которые занимаются разработкой и испытаниями высокоскоростной цифровой электроники.

Больше информации

Анализ целостности сигнала в печатных платах

Вебинар «Анализ целостности сигнала для печатных плат и межсоединений»

Вебинар разработан для инженеров, изучающих целостность сигнала с помощью цифровых устройств. Основное внимание уделяется таким аспектам влияния на каналы через печатные платы и межсоединения, как несоответствие импедансов, потери и частотные характеристики материала печатной платы, непреднамеренные перекрестные помехи и резонансные структуры.

Больше информации

Документы по испытаниям печатных плат и межсоединений

Определение характеристик и компенсация цепей измерительных плат

Определение характеристик и компенсация цепей измерительных плат

Для проведения измерений устройств без разъемов требуются измерительные платы или пробники, служащие адаптером между коаксиальным интерфейсом испытательного оборудования и испытуемым устройством. Для этих входов и выходов необходимо проводить определение характеристик и компенсацию цепей, чтобы исключить их влияние из результатов измерений. В этом руководстве по применению содержатся практические советы по точному определению характеристик и компенсации цепей для входов и выходов с помощью векторных анализаторов цепей R&S.

Больше информации

Испытания на вносимые потери электропроводящих цепей печатных плат с помощью алгоритма Delta‑L 4.0

Вносимые потери на дюйм служат основным критерием качества печатных плат в схемах PCIe. Они подлежат измерению на определенном слое печатной платы без влияния зондов печатных плат и переходных отверстий. Для этого используется метод Delta-L с применением контрольных образцов различной длины. Алгоритм Delta L 4.0 как недавнее расширение для PCIe 5.0 и PCIe 6.0 встроен в R&S®ZNx-K231.

Больше информации

Точные измерения для высокоскоростных цифровых печатных плат с помощью анализатора R&S®ZNB

Точные измерения для высокоскоростных цифровых печатных плат с помощью анализатора R&S®ZNB

Благодаря опции расширенного анализа во временной области R&S®ZNB-K20 анализатор R&S®ZNB позволяет проводить точные измерения глазковой диаграммы, времени нарастания, сдвига и других параметров на цифровых высокоскоростных структурах передачи сигнала. Для устранения влияния вводов и выводов можно установить дополнительные инструменты исключения.

Больше информации

Важность точности S-параметров для приложений c PAM-4

Важность точности S-параметров для приложений c PAM-4

Для определения вносимых потерь, обратных потерь и перекрестных помех сигнальных структур в высокоскоростных цифровых устройствах необходимы точные измерения S-параметров. Вводятся рабочий диапазон канала (COM) и эффективные обратные потери (ERL) для описания производительности канала при определенных моделях передатчика и приемника.

Скачать сейчас

Измерения во временной области с помощью векторного анализатора цепей ZNA

Измерения во временной области с помощью векторного анализатора цепей ZNA

Общие сведения об TDR/TDT-измерениях: реакция на импульсный и ступенчатый входные сигналы, разрешение по времени и расстоянию, величина шага и однозначный диапазон, организация окон и стробирование во временной области

Скачать сейчас

R&S®ZNB

Контроль целостности ВЧ-сигналов на печатных платах

С учетом повышения скорости передачи данных необходимо разработать сигнальные структуры для печатных плат для таких частот, как 40 ГГц и выше. Все большая потребность в анализе обратного высверливания и соответствующих внутрисхемных испытаний функциональных сигнальных структур приводит к появлению быстрых и полностью автоматизированных испытательных решений.

Больше информации

Быстрое определение характеристик высокоскоростных цифровых каналов с помощью многопортового ВАЦ

Быстрое определение характеристик высокоскоростных цифровых каналов с помощью многопортового ВАЦ

Векторный анализатор цепей (ВАЦ) — предпочтительный прибор для определения характеристик высокоскоростных цифровых каналов. По сравнению с традиционными 4-портовыми ВАЦ многопортовые ВАЦ, такие как R&S®ZNBT, обеспечивают значительные преимущества при измерении IL, RL, NEXT и FEXT в многополосных сигнальных структурах.

Скачать сейчас

Видео по испытаниям печатных плат и межсоединений

De-embedding and measuring a PCIe5 connector with R&S®VNA
Компенсация и измерение разъема PCIe5 с помощью R&S®ZNA

На примере настроек и измерений с помощью векторного анализатора цепей R&S®ZNA мы демонстрируем процедуру компенсации разъема PCIe5, встроенного в измерительную плату.

Signal Integrity Measurements

Измерения целостности сигнала

В сочетании с опцией расширенного анализа во временной области R&S®ZNA-K20 векторный анализатор цепей R&S®ZNA дает возможность выполнять различные измерения целостности сигнала с оценкой глазковой диаграммы, времени нарастания, сдвига и других параметров. Кабель USB-C анализируется в частотной и временной областях.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Испытания целостности при передаче дифференциальных сигналов с помощью анализатора R&S®ZNB

Измерение времени нарастания, импеданса, сдвига фазы внутри пары и между парами и т. д. с помощью опции расширенного анализа во временной области R&S®ZNB-K20.

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

Анализ TDR/TDT с помощью осциллографов от компании R&S

TDR/TDT-измерение с анализом импедансов и потерь при передаче с помощью R&S®RTP-K130. Опция включает в себя удобный метод калибровки, который позволяет переносить опорную плоскость измерения в необходимое положение.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Анализ глазковой диаграммы с помощью анализатора R&S®ZNB: введение

Измерения и испытания с помощью глазковых диаграмм при наличии опции расширенного анализа во временной области R&S®ZNB-K20. Опция позволяет анализировать джиттер и шум, а также применять предыскажения и выравнивание к измеренной глазковой диаграмме.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Анализ глазковой диаграммы с помощью анализатора R&S®ZNB: настройка измерений

Измерения и испытания с помощью глазковых диаграмм при наличии опции расширенного анализа во временной области R&S®ZNB-K20. Опция позволяет анализировать джиттер и шум, а также применять предыскажения и выравнивание к измеренной глазковой диаграмме.

Связанные продукты

Осциллографы

Осциллографы

Больше информации

Векторные анализаторы цепей

Векторные анализаторы цепей

Больше информации

Анализаторы спектра и сигналов / анализаторы фазового шума

Анализаторы спектра и сигналов / анализаторы фазового шума

Больше информации

Источники питания постоянного тока

Источники питания постоянного тока

Больше информации

Связанные темы

Испытания высокоскоростных цифровых интерфейсов

Испытания высокоскоростных цифровых интерфейсов

Больше информации

Испытания целостности питания

Испытания целостности питания

Больше информации

Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Больше информации

Испытания на ЭМС

Испытания на ЭМС

Больше информации

Запросить информацию

У вас есть вопросы или вам нужна дополнительная информация? Просто заполните эту форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время..

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.