Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen

Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen

Messtechniklösungen für die Verifizierung, Fehlersuche und Konformitätsprüfung von schnellen digitalen Designs

Schnelle digitale Schnittstellen sind heute aus keinem Elektronikdesign mehr wegzudenken. Die immer höheren Datenraten und zunehmende Integrationsdichte stellen auf IC-, Baugruppen- und Systemebene neue Anforderungen an die Designs. Ein wesentlicher Aspekt ist die Signalintegrität – diese muss auch im Umfeld von Funksignalquellen oder anderer Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen sowie bei Auftreten von Störungen auf den Stromversorgungsleitungen gewährleistet sein. Damit auch Extremszenarien effektiv erfasst werden können, sind hohe Erfassungsraten und leistungsfähige Trigger-Funktionen erforderlich.

Die Testlösungen von Rohde & Schwarz bieten leistungsstarke Werkzeuge zur Systemverifizierung, Fehlersuche und Konformitätsprüfung für:

  • Signalintegrität: Schnittstellentests
  • Signalintegrität: Leiterplatten- und Verbindungstests
  • Fehlersuche auf Protokollebene
  • Power-Integrity-Tests
Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, DDR-Tests

DDR – Double Data Rate Memory

  • Testlösungen für die Designverifizierung und Fehlersuche
  • Testlösungen für die Konformitätsprüfung
Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, USB-Tests

USB – Universal Serial Bus

  • Testlösungen für die Designverifizierung und Fehlersuche
  • Testlösungen für die Konformitätsprüfung
Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, PCIe-Tests

PCIe – Peripheral Component Interconnect Express

  • Testlösungen für die Designverifizierung und Fehlersuche
  • Testlösungen für die Konformitätsprüfung
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