Erweiterte Jitter-Analyse mit Rohde & Schwarz-Oszilloskopen
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Webinar: Introduction to novel Rohde & Schwarz approach for jitter decomposition
Die Jitter-Zerlegung ist bei digitalen Standards von entscheidender Bedeutung für die Fehlersuche und die Entdeckung der Jitter-Fehlerursache. In diesem Webinar stellen wir einen neuen Ansatz vor, der es ermöglicht, durch Jitter-Zerlegung und Bitfehlerraten (BER)-Schätzung konsistente Ergebnisse zu erzielen. Anhand einer detaillierten Zerlegung in Komponenten lernen Sie eine neue, Signalmodell-basierte Methode kennen, die sämtliche Signalinformationen berücksichtigt, umfassende Analyseergebnisse liefert und eine gute Ergebniskorrelation gewährleistet.
Dr. Mathias Hellwig develops, verifies and supports test and measurement solutions for time-domain applications at Rohde & Schwarz. His focus is on testing digital designs. He achieved deep technical expertise in theory and practice when finishing his PhD in ADC design at the Ruhr-University Bochum and while working on system architectures in various roles before joining Rohde & Schwarz in 2012.
Guido Schulze has more than 20 years of experience in high-speed digital testing. For the last ten years, he has worked as a product manager for the oscilloscope product division at Rohde & Schwarz. He specializes in high-end models and their respective applications.
