スペクトラム・アナライザとプローブを使用した差動測定

コンポーネントのサイズと、使用できるボードスペースが縮小し続けているため、RF測定器に対して適切なテスト接続を確保するという課題が生じています。最近はRF回路の高性能差動ビルディングブロックの入手と使用が容易になり、測定器の接続に関する問題がますます増大しています。オシロスコープのプローブを使用すれば、コンタクトに最小限の面積しか使用できないプリント基板ライン／チップの接点に接続して測定を実行できる可能性があります。このアプリケーションノートでは、スペクトラム・アナライザによるRF測定でオシロスコーププローブを使用する方法を説明します。さらに、スペクトラム・アナライザによる差動測定の結果も掲載されています。