Digital bus and interface standards

テストフィクスチャの正確な特性評価およびディエンベディング

コネクタ加工されていないデバイスに対しては、テストフィクスチャやプローブなどの構造物を使用して、テストセットアップの同軸インタフェースと被試験デバイス(DUT)を接続します。DUTを正確に測定するには、これらのリードイン/リードアウトを特性評価して、効果を数学的に除去(測定結果からのディエンベディング)できるようにする必要があります。

このアプリケーションノートでは、R&S ZNA、ZNB、ZNBT、およびZND ベクトル・ネットワーク・アナライザを用いてそのようなリードイン/リードアウト構造を正確に特性評価してディエンベディングするための実践的なヒントを提供します。ディエンベディングは、オシロスコープなどの他のテスト機器でも不可欠です。そのため、このガイドでは、VNAを使用してリードイン/リードアウトを正確に特性評価した後で、それらを他の測定器で使用するためのSパラメータファイルとしてエクスポートする手順についても説明します。

Name
Type
Version
Date
Size
1SL367_0e_Test_Fixture_Characterization_and_De-embedding

This application note provides practical hints to accurately characterize and de-embed these lead-in and lead-out structures with R&S Vector Network Analyzers ZNA, ZNB, ZNBT and ZND.

Type
アプリケーション・ノート
Version
1.0
Date
Sep 19, 2022
Size
2 MB
Name
Type
Version
Date
Size
1SL367_0e_Test_Fixture_Characterization_and_De-embedding

This application note provides practical hints to accurately characterize and de-embed these lead-in and lead-out structures with R&S Vector Network Analyzers ZNA, ZNB, ZNBT and ZND.

Type
アプリケーション・ノート
Version
Date
Jan 30, 2024
Size
2 MB
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