R&S®FSW-K50によるスプリアス測定の高度な技法

RF/マイクロ波デバイスのデザイン、検証、製造では、スペクトラム・アナライザでのスプリアスエミッションの探索が、最も要求の厳しい測定です。特に航空宇宙／防衛産業におけるRFデザインでは、非常に低いレベルのスプリアスを検出する必要があります。低ノイズフロアで測定するには非常に狭い分解能帯域幅が求められるため、測定時間が長くなります。非常に高速なスペクトラム・アナライザで作業しても、スプリアスサーチに数時間から数日を費やす可能性があります。

このホワイトペーパーでは、スプリアス測定の基礎を確認し、使用されているパラメータが検出性能に与える影響について説明します。R&S®FSW-K50 スプリアス測定アプリケーションにて使用されている新しい手法では、高速なスプリアスサーチと容易な設定方法を実現しています。