DDR3/DDR4 시스템 설계의 효율적인 EYE 다이어그램 테스트
적합성 테스트는 DRAM(Dynamic Random Access Memory) 신호가 타이밍, 슬루레이트, 전압 레벨에 대한 JEDEC 사양을 충족하는지 여부를 확인하는 데 필수적입니다. 시스템 검증 및 디버깅에서 EYE 다이어그램 측정은 모든 디지털 설계의 신호 무결성을 효율적으로 분석하는 데 가장 중요한 툴입니다. 고유한 특성을 지닌 DDR이 DDR 데이터 속도로 의미 있는 EYE 다이어그램을 얻기 위해서는 읽기/쓰기 구분이 강력한 전용 솔루션이 필요합니다.