background

Презентация продукта R&S®TSME на MWC 2014

R&S®TSME Product Introduction at MWC 2014

Сканер измерения покрытия R&S®TSME был представлен на Всемирном конгрессе Mobile World Congress 2014 в Барселоне.

Связанные продукты

Сканер для измерения покрытия методом объезда или обхода R&S®TSMx, вид спереди
R&S®TSMx Сканер для драйв-тестов и измерения методом обхода Информация об изделии

Request information

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.