Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, DDR-Tests

DDR – Double Data Rate Memory

Effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem DDR-Design

Designverifizierung und Fehlersuche – Konformitätstests

Die Nachfrage nach höheren Geschwindigkeiten, größeren Speichern und mehr Energieeffizienz ist die wesentliche Motivation für die Weiterentwicklung der von der JEDEC definierten DDR- und LPDDR-Schnittstellentechnologien. In enger Zusammenarbeit mit der JEDEC entwickelt Rohde & Schwarz leistungsstarke Lösungen für DDR-Konformitätstests.

Als Systembestandteile müssen der DDR-Speicher-Controller und die Speicherbausteine auch im Umfeld anderer schneller Schnittstellen und selbst unter dem Einfluss externer Funksignale fehlerfrei arbeiten. Neben Konformitätsprüfungen unterstützen die DDR-Testlösungen von Rohde & Schwarz auch die effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem Design sowohl auf der Baugruppen- als auch Systemebene.

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Jitter-Analyse mit dem R&S®RTO Oszilloskop

Jitter ist ein wesentlicher Aspekt der Signalintegritätsanalyse. Mit den Optionen R&S®RTP-K12 und R&S®RTO-K12 können Rohde & Schwarz Oszilloskope Zeitintervallfehler-Jitter, periodischen Jitter, Zyklus-zu-Zyklus-Jitter usw. messen und die Ergebnisse als Jitter-Track, Histogramm oder Spektrum anzeigen.

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