Messtechnik für schnelle digitale Schnittstellen, DDR-Tests

DDR – Double Data Rate Memory

Effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem DDR-Design

Designverifizierung und Fehlersuche – Konformitätstests

Die Nachfrage nach höheren Geschwindigkeiten, größeren Speichern und mehr Energieeffizienz ist die wesentliche Motivation für die Weiterentwicklung der von der JEDEC definierten DDR- und LPDDR-Schnittstellentechnologien. In enger Zusammenarbeit mit der JEDEC entwickelt Rohde & Schwarz leistungsstarke Lösungen für DDR-Konformitätstests.

Als Systembestandteile müssen der DDR-Speicher-Controller und die Speicherbausteine auch im Umfeld anderer schneller Schnittstellen und selbst unter dem Einfluss externer Funksignale fehlerfrei arbeiten. Neben Konformitätsprüfungen unterstützen die DDR-Testlösungen von Rohde & Schwarz auch die effiziente Verifizierung und Fehlersuche an Ihrem Design sowohl auf der Baugruppen- als auch Systemebene.

  • Oszilloskope für Schnittstellenverifizierung, Debugging, Konformitätstests und TDR-Analyse
  • Netzwerkanalysatoren für Leiterplatten- und Verbindungstests
Schritt-für-Schritt-Leitfaden: Advanced probing in DDR3/DDR4 memory design

Schritt-für-Schritt-Leitfaden

Fortgeschrittene Sondierungstechniken für DDR3/DDR4-Speicherdesigns

Beim Testen von Designs mit DDR-Speichern ist es gleichermaßen wichtig, sowohl die Messtechniken als auch die Sondierungslösungen zu begutachten. Um reproduzierbare und exakte Testergebnisse zu erzielen, ist es von entscheidender Bedeutung, den passenden Tastkopf zu wählen, an der richtigen Stelle zu sondieren, die Impedanz der Prüfspitze für die Kompensation von Interposer-Widerständen anzupassen und die Messgenauigkeit durch Deembedding zu verbessern.

Application Guide: Verifizierung auf Systemebene und Debugging von DDR3/DDR4-Speicherdesigns

Application Guide

Verifizierung auf Systemebene und Debugging von DDR3/DDR4-Speicherdesigns

  • DDR-Speichertechnologie
  • Häufige Design-Herausforderungen
  • Strategien für Verifizierung und Debugging
  • Typische Messungen
Webinar: DDR memory system design verification and debug

Webinar

Verifizierung des Designs von DDR-Speichersystemen und Fehlersuche

Lernen Sie optimale Verfahrensweisen zur Verifizierung des Designs von DDR-Speichersystemen und zur Fehlersuche mit einem Oszilloskop kennen. Entwicklungs- und Prüfingenieure erfahren, wie wichtig es ist, einen stabilen Betrieb sicherzustellen und das Ausfallrisiko nach Änderungen während der Lebensdauer des Produkts zu verringern.

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Bei der Fehlerbehebung von SI-Problemen bei DDR sind Funktionalitäten und Werkzeuge wie Maskentests, Augendiagramme und die Trennung von Lese- und Schreibzyklen erforderlich, um den Aufwand für die Analyse zu verringern. Die Optionen R&S®RTx-K91 (DDR3/DDR3L/LPDDR3) und R&S®RTx-K93 (DDR4/LPDDR4) bieten umfangreiche Werkzeuge für sämtliche Aufgaben von der DDR-Systemvalidierung über das Debugging bis hin zum Konformitätstest.

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Um Messergebnisse an der BGA-Schnittstelle des DDR-Speicherbausteins zu erhalten, ist das Deembedding der Interposer-Eigenschaften notwendig. Mit der Option R&S®RTP-K122 ermöglicht das R&S®RTP das Echtzeit-Deembedding zum Messen und Triggern auf Deembedded-Signale in Echtzeit.

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Die Messung und Kompensation der Kanal-Kanal-Laufzeitdifferenz ist eine wichtige Voraussetzung für exakte Mehrkanalmessungen. Die R&S®RTO and R&S®RTP Oszilloskope vereinfachen diesen Vorgang mit einer schnellen differenziellen Pulsquelle (Optionen R&S®RTO-B7 and R&S®RTP-B7).

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