Test di integrità del segnale

Integrità del segnale: test delle schede e delle interconnessioni

La corretta progettazione delle tracce dei circuiti stampato, delle via, dei connettori e dei cavi è essenziale per garantire l'integrità dei segnali lungo l'intero canale di trasmissione. Le prestazioni sono tipicamente caratterizzate dalla perdita di inserzione e dalla perdita di ritorno, nonché dalla paradiafonia (near-end crosstalk, NEXT) e dalla telediafonia (far-end crosstalk, FEXT). Molto spesso è necessario ricavare informazioni dettagliate sui potenziali percorsi di accoppiamento EMI o EMS, sulla conversione di modo, come ad esempio la conversione da modo differenziale a modo comune, tutte condizioni che devono essere attentamente verificate. I parametri nel dominio della frequenza vengono anche trasformati nel dominio del tempo per visualizzare le discontinuità e l'impedenza in base alla struttura del segnale, così come il tempo di salita/discesa del segnale stesso, il disallineamento temporale (skew) tra i segnali di una coppia e tra le diverse coppie. Anche i test con diagrammi a occhio e con maschere a occhio sono spesso eseguiti sulla base dei parametri S misurati.

Per evitare una complessa procedura di calibrazione TRM/TRL con più standard, è necessario eseguire la procedura di de-embedding, al fine di caratterizzare accuratamente le connessioni di ingresso e di uscita del dispositivo in prova (DUT). Mediante la funzione di de-embedding, gli effetti delle connessioni di ingresso e di uscita sono rimosse dalla misura ed è possibile eseguire misure accurate sul dispositivo in prova (DUT). La connessione di ingresso caratterizzata può anche essere utilizzata per il de-embedding di questo percorso del segnale in una misura con l'oscilloscopio.

Con la sua grande competenza nelle misure, sia nel dominio del tempo che della frequenza, e lavorando a stretto contatto con gli organismi di standardizzazione, Rohde & Schwarz offre una vasta gamma di soluzioni per valutare l'integrità del segnale sulle schede a circuito stampato e nelle interconnessioni, per caratterizzare le connessioni di ingresso da utilizzare negli oscilloscopi per eseguire il de-embedding e ottenere i risultati corretti delle misure.

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Poster: Test visivo dell'integrità del segnale

Con questo poster otterrete preziose indicazioni su come effettuare un test visivo dell'integrità del segnale in trasmettitori o ricevitori e su come generare un diagramma a occhio usando oscilloscopi e analizzatori di reti vettoriali.

Potrete utilizzare questo poster come riferimento nel vostro laboratorio. Registratevi per ricevere un PDF da scaricare o una versione stampata per il vostro laboratorio.

Webinar su test delle schede e delle interconnessioni

Webinar: Selection, characterization and de-embedding of differential probes for accurate measurements of high-speed PCB signal structures

Webinar: Selection, characterization and de-embedding of differential probes for accurate measurements of high-speed PCB signal structures

This webinar addresses the key aspects for making accurate measurements with differential probes on high-speed PCB signal structures.

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Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

Webinar: De-embedding avanzato: modellazione accurata delle attrezzature per effettuare misure precise con un VNA su dispositivi in prova non coassiali

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al collaudo di schede elettroniche digitali ad alta velocità.

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Analisi di Integrità del segnale su schede PCB

Webinar: Analisi dell’integrità del segnale in circuiti stampati e interconnessioni

Questo webinar è stato creato per i progettisti che lavorano sull’integrità del segnale nei sistemi elettronici digitali. Sarà focalizzato sugli aspetti legati all’influenza del canale nelle schede a circuito stampato e nelle interconnessioni, come il disadattamento dell’impedenza, le perdite e la risposta in frequenza sul materiale della scheda, la diafonia non intenzionale e le strutture risonanti.

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Documenti su test delle schede e delle interconnessioni

Test fixture characterization and de-embedding

Test fixture characterization and de-embedding

For measurements of non-connectorized devices, test fixtures or probes are required to adapt from the coaxial interface of the test equipment to the device unter test. These lead-ins and lead-outs need to be characterized and de-embedded from the measurement results. This application note provides practical hints to accurately characterize and de-embed lead-in and lead-out structures with R&S Vector Network Analyzers.

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Test della perdita di inserzione delle strutture di segnale delle schede PCB con Delta‑L 4.0

La perdita di inserzione per pollice rappresenta un parametro fondamentale per PCB nei progetti PCIe. Deve essere misurato per la sezione di una traccia di segnale su un determinato strato della PCB, eliminando gli effetti delle sonde e dei vias della PCB stessa. Delta-L è il metodo scelto per ricavare questo valore, utilizzando test coupon di diversa lunghezza. Delta L 4.0 è un'estensione recente per PCIe 5.0 e 6.0 ed è integrata in R&S®ZNx-K231.

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Misure precise su schede digitali ad alta velocità con l'analizzatore R&S®ZNB

Misure precise su schede digitali ad alta velocità con l'analizzatore R&S®ZNB

Con l'opzione avanzata dominio del tempo, R&S®ZNB-K20, l'analizzatore R&S®ZNB permette di effettuare misure accurate di diagrammi a occhio, tempo di salita, disallineamento, ecc. su strutture di segnali digitali ad alta velocità. Ulteriori strumenti di de-embedding possono essere installati per rimuovere gli effetti delle connessioni di ingresso e di uscita.

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L'importanza di misurare accuratamente i parametri S nelle applicazioni PAM-4

L'importanza di misurare accuratamente i parametri S nelle applicazioni PAM-4

Misure accurate di parametri S sono necessarie per caratterizzare la perdita di inserzione, la perdita di ritorno e la diafonia delle strutture di segnale nei progetti digitali ad alta velocità. Vengono introdotti il Margine Operativo del Canale (COM) e la Perdita di Ritorno Effettiva (ERL) per descrivere le prestazioni del canale per un modello definito di trasmettitore e ricevitore.

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Misure nel dominio del tempo con l'analizzatore di reti vettoriale ZNA

Misure nel dominio del tempo con l'analizzatore di reti vettoriale ZNA

Introduzione alle misure TDR/TDT basate su analizzatori di reti: risposta all'impulso e al gradino, risoluzione nel tempo e nella distanza, dimensione dei passi e gamma non ambigua, windowing e gating nel dominio del tempo

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R&S®ZNB

Verifica dell’integrità dei segnali ad alta frequenza nei circuiti stampati

Con l'aumento della velocità dei dati, le strutture che trasportano i segnali sulle schede devono essere progettate per sopportare frequenze da 40 GHz e oltre. La crescente necessità di ispezionare i fori dal retro della scheda e il corrispondente test a bordo scheda delle strutture funzionali richiedono soluzioni di test veloci e completamente automatizzate.

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Caratterizzazione rapida dei canali digitali ad alta velocità utilizzando un VNA multiporta

Caratterizzazione rapida dei canali digitali ad alta velocità utilizzando un VNA multiporta

L'analizzatore di reti vettoriale (VNA) è lo strumento da scegliere per caratterizzare i canali digitali ad alta velocità. Rispetto agli analizzatori di reti tradizionali a 4 porte, gli strumenti multiporta come il modello R&S®ZNBT offrono vantaggi significativi quando si misurano IL, RL, NEXT e FEXT in strutture di segnale a più corsie.

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Video su test delle schede e delle interconnessioni

De-embedding and measuring a PCIe5 connector with R&S®VNA
De-embedding e misura di un connettore PCIe5 con l'analizzatore di reti R&S®VNA

Facendo riferimento alle impostazioni e alle misure con un analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA, dimostriamo il processo di de-embedding applicato a un connettore PCIe5 integrato in un adattatore di test.

Signal Integrity Measurements

Misure di integrità del segnale

In combinazione con l'opzione avanzata nel dominio del tempo R&S®ZNA-K20, l'analizzatore di reti vettoriali R&S®ZNA offre una varietà di misure di integrità del segnale, come il diagramma a occhio, il tempo di salita, il disallineamento, ecc. Un cavo USB-C viene analizzato nel dominio della frequenza e del tempo.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Test di integrità del segnale su strutture di segnali differenziali con l'analizzatore R&S®ZNB

Misura del tempo di salita, dell'impedenza, del disallineamento intracoppia, del disallineamento intercoppia, ecc. con l'opzione per misure avanzate nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20.

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

Analisi TDR/TDT con gli oscilloscopi Rohde & Schwarz

Misura TDR/TDT, analisi dell'impedenza e della perdita di trasmissione con l'opzione R&S®RTP-K130. L'opzione comprende una procedura guidata di calibrazione facile da usare per spostare il piano di riferimento della misura nella posizione richiesta.

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Analisi del diagramma a occhio con R&S®ZNB: Introduzione

Misure con diagrammi a occhio e test con maschera con l'opzione per misure avanzate nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20. L'opzione consente di effettuare l'analisi del jitter e del rumore, nonché di valutare enfasi ed equalizzazione sul diagramma a occhio misurato.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Analisi del diagramma a occhio con R&S®ZNB: come impostare le misure

Misure con diagrammi a occhio e test con maschera con l'opzione per misure avanzate nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20. L'opzione consente di effettuare l'analisi del jitter e del rumore, nonché di valutare enfasi ed equalizzazione sul diagramma a occhio misurato.

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