ウエハーとダイのテスト
オンウエハーテストとダイテストのためのRFプロービング
現代の世界は、有線と無線の両方の接続に依存しています。この接続を実現するのがチップ、とりわけRFチップです。RFチップは、より多くの機能や周波数バンドを継続的にサポートしています。一般に、複雑なRFチップには、システムインパッケージ(SIP)と同様にさまざまな機能や半導体テクノロジーが含まれます。
各要素と半導体の機能を検証する場合、高コストの統合とパッケージングの前に個別の機能ブロックを検証するテストを行います。製造プロセスでは、早い段階でウエハーとダイのテストを行います。
ローデ・シュワルツは、高速かつ正確なオンウエハーテストとダイテストを実行できる最先端の測定器を提供しています。高度なRFプロービングを提供するために、プローブステーションの最先端のスペシャリストとも連携しています。