R&S®SMBV-K80 Bit Error Rate / Block Error Rate Tester

  • Обзор

Key Facts

Extended DUT characterization can require Bit Error Rate (BER) or Block Error Rate (BLER) testing using a digitally modulated RF signal.

Key Facts

Extended DUT characterization can require Bit Error Rate (BER) or Block Error Rate (BLER) testing using a digitally modulated RF signal. Enhanced DUTs, like mobile communication base stations support internal bit error rate testing. But many general products in various market segments require an external BER test solution. This can be addressed with the option R&S®SMBV-K80 which allows the calculation of bit error rates and block error rates.

Благодарим вас.

Ваш запрос был успешно отправлен!

Мы свяжемся с Вами в ближайшее время.

Коллектив Rohde & Schwarz

Получить на тест

Введите текст запроса.
Введите свое имя.
Введите свое имя.
Введите действующий адрес электронной почты.
Введите название компании.
Введите город.
Введите почтовый индекс.

Укажите свою страну.
Введите символы, показанные на изображении
show captcha
Введена недействительная информация.
Do not enter data in this field
Благодарим вас.

Ваш запрос был успешно отправлен!

Мы свяжемся с Вами в ближайшее время.

Коллектив Rohde & Schwarz

Узнать цену

Введите текст запроса.
Введите свое имя.
Введите свое имя.
Введите действующий адрес электронной почты.
Введите название компании.
Введите город.
Введите почтовый индекс.
Введите номер телефона.

Укажите свою страну.
Введите символы, показанные на изображении
show captcha
Введена недействительная информация.
Do not enter data in this field
Благодарим вас.

Ваш запрос был успешно отправлен!

Мы свяжемся с Вами в ближайшее время.

Коллектив Rohde & Schwarz

Запросить информацию

Введите текст запроса.
Введите свое имя.
Введите свое имя.
Введите действующий адрес электронной почты.
Введите название компании.
Введите город.
Введите почтовый индекс.

Укажите свою страну.
Введите символы, показанные на изображении
show captcha
Введена недействительная информация.
Do not enter data in this field
International Website