Испытания высокоскоростных цифровых устройств с помощью компании Rohde & Schwarz

День разработки и испытаний электронных устройств, 2019

Просмотрите видео всех девяти докладов экспертов

Компания Rohde & Schwarz провела День разработки и испытаний электронных устройств в Мюнхене 21 февраля 2019 года. Эксперты промышленной отрасли и компании Rohde & Schwarz рассказывали о проблемах разработки, методах испытаний и решениях. Программа дня была ориентирована на разработку и испытания преобразователей постоянного тока с обеспечением целостности питания и высокоскоростных интерфейсов; в конце были рассмотрены беспроводные интерфейсы IoT в электронных устройствах.

Приглашенные представители отрасли из компаний EyeKnowHow, Picotest и Texas Instruments расставили приоритеты в области разработки с обзором основных проблем и методов. Демонстрируя решения и примеры применения, докладчики компании Rohde & Schwarz обозначали преимущества продуктов в области отраслевой разработки. Обсуждались аспекты как временной, так и частотной областей; для обеих областей были предложены передовые технологии.

Программное выступление
Тесная взаимосвязь целостности питания и целостности сигналов — Стив Сэндлер (Steve Sandler), Picotest

Тема 1: разработка и испытания преобразователей постоянного тока

  • Компенсация в импульсных преобразователях мощности стала проще — Бернд Гек (Bernd Geck), Texas Intsruments
  • Универсальное решение для испытаний в рамках разработки устройств силовой электроники — Андреас Ибль (Andreas Ibl), Rohde & Schwarz
  • Предварительные испытания на соответствие стандартам по ЭМП — Штефан Штахубер (Stefan Stahuber), Rohde & Schwarz

Тема 2: обеспечение целостности питания — разработка и испытания

  • Целостность питания в распределенных системах — Стив Сэндлер (Steve Sandler), Picotest
  • Измерительные инструменты для проверки целостности питания и сопротивления PDN — Мартин Штумпф (Martin Stumpf) и Андреа Даквино (Andrea D'Aquino), Rohde & Schwarz

Тема 3: разработка и испытания высокоскоростных интерфейсов

  • Проблемы проверки интерфейса памяти DDR — Герман Рукербауэр (Hermann Ruckerbauer), EyeKnowHow
  • Отладка высокоскоростных устройств с помощью высокопроизводительных осциллографов — Гвидо Шульце (Guido Schulze) и Аня Паула (Anja Paula), Rohde & Schwarz
  • IoT: беспроводные интерфейсы в электронных устройствах — Йорг Кёпп (Joerg Koepp), Rohde & Schwarz

Все девять докладов экспертов были записаны и оптимизированы для презентаций и представления в виде слайдов. Зарегистрируйтесь для просмотра видеоматериалов и крупноразмерных изображений процесса разработки и испытаний с большим количеством важных дополнительных данных по целостности сигналов, целостности питания и соответствию стандартам по ЭМП.

Closely connected: power integrity and signal integrity

Тесная взаимосвязь целостности сигналов и целостности питания

Программное выступление Стива Сэндлера (Steven Sandler), отраслевого эксперта и генерального директора компании Picotest

Инженеры хотят контролировать целостность питания и целостность сигналов как отдельные изолированные показатели, которые в действительности тесно взаимосвязаны. Взаимосвязь этих показателей необходимо учитывать в процессе разработки для оптимизации производительности и уменьшения дорогостоящих конструктивных просчетов, которые сложно исправить. В этом разделе демонстрируются часто упускаемые из виду ошибки.

Разработка и испытания преобразователей мощности с помощью решений Rohde & Schwarz

Разработка и испытания преобразователей постоянного тока

Бернд Гек (Bernd Geck), Texas Instruments / Андреас Ибль (Andreas Ibl), Rohde & Schwarz / Штефан Штахубер (Stefan Stahuber), Rohde & Schwarz

В этой теме рассмотрен процесс разработки импульсных преобразователей мощности, представленный в виде пошаговой процедуры, которой могут придерживаться инженеры для компенсации преобразователя мощности. В конце этой темы описываются решения и методы испытаний, предназначенные для решения проблем разработки.

Узнайте больше о разработке и испытаниях преобразователей постоянного тока

Switch-mode power converter compensation made easy

Компенсация импульсных преобразователей мощности стала проще

Мы рассматриваем теорию компенсации и причины, по которым она необходима, оцениваем различные силовые каскады и описываем расположение полюсов и нулей сети компенсации. Демонстрируются типичные усилители ошибок и транскондуктивные усилители, а также их влияние на контур управления.

All-in-one test solution for power electronics design

Универсальное решение для испытаний в рамках разработки устройств силовой электроники

Проверка стабильности контура управления, анализ переключений и соответствие стандартам по ЭМП — ключевые аспекты разработки преобразователей постоянного тока. Мы демонстрируем функциональные возможности и производительность осциллографов, позволяющих выполнять разнообразные измерения характеристик силовой электроники.

EMI precompliance testing

Предварительные испытания на соответствие стандартам по ЭМП

Предварительные испытания на соответствие стандартам по ЭМП во время разработки продукта снижают затраты и сокращают время вывода на рынок. В данном разделе кратко описывается переход от выявления и устранения ЭМП с помощью предварительных испытаний на соответствие к полноценным испытаниям на соответствие. Мы более подробно рассмотрим инструмент проведения эффективных предварительных испытаний на соответствие стандартам по ЭМП.

Обеспечение целостности питания — разработка и испытания

Обеспечение целостности питания — разработка и испытания

Стив Сэндлер (Steve Sandler), Picotest / Мартин Штумпф (Martin Stumpf), Rohde & Schwarz / Андреа Даквино (Andrea D'Aquino), Rohde & Schwarz

Здесь описываются современные распределенные системы, в том числе аналоговые и цифровые устройства, а также высокоэффективные интегральные схемы ASIC. У каждого устройства своя чувствительность к фазовому шуму. Для обеспечения оптимальной производительности системы необходимы соответствующие инструменты измерения и анализа, с помощью которых можно удовлетворять часто сложно выполнимые системные требования. Типичные проблемы в процессе разработки — низкие значения напряжения и строгие допуски по напряжениям, а также сильные токи и низкие целевые значения импеданса сети питания.

Узнайте больше об обеспечении целостности питания

Power integrity for distributed systems

Целостность питания для распределенных систем

Этот раздел содержит описание проблем системного уровня и эффективных технологий измерения и анализа для обеспечения оптимальной производительности систем с удовлетворением конкурентных требований.

Measurement tools to verify power integrity and PDN impedance

Измерительные инструменты для проверки целостности питания и сопротивления сети питания

Мы рассматриваем измерительные решения на базе осциллографа и анализатора цепей с целью анализа помех в шинах питания во временной и частотной областях, а также измерения сопротивления сети питания.

Разработка и испытания высокоскоростных интерфейсов

Разработка и испытания высокоскоростных интерфейсов

Герман Рукербауэр (Hermann Ruckerbauer), EyeKnowHow / Гвидо Шульце (Guido Schulze), Rohde & Schwarz / Аня Паула (Anja Paula), Rohde & Schwarz

Здесь рассматриваются современные цифровые устройства, в том числе высокоскоростные интерфейсы, такие как USB, PCIe и особенно модули памяти DDR DRAM — один из последних оставшихся стандартов параллельных интерфейсов. Мы описываем основные проблемы, такие как целостность сигнала, целостность питания, перекрестные помехи от ВЧ-сигналов и ЭМП, а также представляем методы и инструменты отладки.

Узнайте больше о разработке и испытаниях высокоскоростных интерфейсов

Challenges in the verification of a DDR memory interface

Проблемы проверки интерфейса памяти DDR

Ожидается, что память DDR DRAM останется параллельной как минимум в следующем поколении устройств памяти. Проверка и отладка интерфейса — сложная задача. Мы рассматриваем основные проблемы разработки и отладки, а также описываем передовые технологии.

Debugging high-speed designs with high-performance oscilloscopes and network analyzers

Отладка высокоскоростных устройств с помощью высокопроизводительных осциллографов и анализаторов цепей

Мы описываем основные проблемы испытаний и представляем методы и инструменты для отладки цифровых устройств, в том числе высокоскоростных интерфейсов со скоростью передачи данных до 5 Гбит/с. В конце этой темы рассматриваются измерительные методы и решения для проверки целостности сигналов в разъемах, кабелях и линиях передачи данных на печатных платах.

IoT: wireless interfaces in electronic designs

IoT: беспроводные интерфейсы в электронных устройствах

Йорг Кёпп (Joerg Koepp), Rohde & Schwarz

Рассмотрим область беспроводных технологий IoT от Bluetooth 5 и Wi-Fi 6 до пятого поколения сетей мобильной связи. Узнайте больше об основных проблемах этих беспроводных интерфейсов IoT, их влиянии на разработку, а также о том, как многозонные испытания могут упростить ваше знакомство с IoT.

Наши решения

Испытания цифровых устройств

Выбирайте наши полноценные контрольно-измерительные решения для проверки целостности сигналов и питания, стандартов цифровых интерфейсов и шин, возбуждения и анализа аналоговых/цифровых сигналов, отладки по ЭМС и разработки преобразователей данных.

Больше информации

Испытания высокоскоростных цифровых интерфейсов

Высокоскоростные цифровые интерфейсы — главные компоненты любых электронных устройств. С повышением скорости передачи данных и увеличением степени интеграции появляются новые задачи для устройств на уровне интегральных микросхем, плат и систем.

Больше информации

Силовая электроника

Управляйте всеми аспектами испытаний силовой электроники с помощью наших решений для встраиваемой силовой электроники и интегральных схем, электрооборудования, освещения и электроприводов.

Больше информации

Кабельное ТВ / стандарты DOCSIS

Комплексные испытания систем подключения кабельных модемов (CMTS) DOCSIS 3.1, усилителей кабельных сетей, лазеров, сетевых компонентов и кабельных модемов.

Больше информации

Запросить информацию

У вас есть вопросы или вам нужна дополнительная информация? Просто заполните эту форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.