説明
レシーバーからの入力信号のAF周波数およびレベル結果を問い合わせています。
ところが、測定時間が2秒以上かかることがあります。VISAテスターで何かのコマンドを試したときには、もっとずっと高速に測定できた覚えがあります。
測定時間を短縮する方法を教えていただけますか?
レシーバーからの入力信号のAF周波数およびレベル結果を問い合わせています。
ところが、測定時間が2秒以上かかることがあります。VISAテスターで何かのコマンドを試したときには、もっとずっと高速に測定できた覚えがあります。
測定時間を短縮する方法を教えていただけますか?
測定時間は約1.1秒までしか短縮できません。
このような低周波信号を測定する場合、確度向上のため、リモート制御での連続測定の繰り返しはオフにされます。
最善の方法は、すべての統計カウントを減らすことです。
***
CMA180.write("CONFigure:AFRF:MEAS:MEV:AF:SCOunt 1") # AF統計カウントを1にする
CMA180.write("CONFigure:AFRF:MEAS:MEV:RF:SCOunt 1") # AF統計カウントを1にする
CMA180.write("CONFigure:AFRF:MEAS:MEV:AFFFT:SCOunt 1") # AF統計カウントを1にする
***
- 古いセットアップ(統計カウントの変更なし、READを使用)では、2秒ごとに測定が行われます。
1.9790422916412354
Test: 1 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000149
1.9821467399597168
Test: 2 1: 0.000000 2: 0.097656 3: 0.000162
1.9705696105957031
Test: 3 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000156
1.9812266826629639
Test: 4 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000150
- 同じセットアップで統計カウントを1に減らすと、約1.2秒に短縮されます。
1.1765117645263672
Test: 1 1: 0.000000 2: 0.927734 3: 0.000162
1.134737491607666
Test: 2 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000156
1.1221659183502197
Test: 3 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000156
1.1532249450683594
Test: 4 1: 0.000000 2: 0.000000 3: 0.000167