シグナルインテグリティー・テスト

シグナルインテグリティー:クロックツリー、PLL、ADC/DACのテスト

最新の高速テクノロジーは、超低ジッタの基準クロックと、システム・オン・チップ(SoCs)の超低ジッタのトランスミッターおよびレシーバーのデザインの両方が必要です。既存の方法のジッタ測定フロアの制限を克服し、基準クロックやSerDes PLLの真のジッタ性能を測定することができる、新しいテスト手法が必要です。このジッタ性能を、パワーレール妨害波から発生するジッタがクロックまたはSerDes PLLに注入される、システムデザインの実際のパワーインテグリティー環境でも実現する必要があります。これは通常、電源ノイズ除去比(PSNR)によって評価されます。112 Gbpsイーサネットなどの高速テクノロジーの複雑化に伴い、ADC/DACベースのイコライゼーションが用いられているため、対応するA/DコンバーターやD/Aコンバーターを設計し特性を評価する必要があります。

ローデ・シュワルツは、タイムドメインと周波数ドメイン両方の専門知識を活用し、関連する規格委員会と緊密に連携することで、クロックツリー、SerDes PLL、ADC/DACのテストにおける新たな課題に対応する高度なソリューションを提供しています。

クロックツリー、PLL、ADC/DACのテストに関するドキュメント

PLLの相加性位相雑音とジッタ減衰量の確認

高速デジタルデザインのPLLの相加性位相雑音とジッタ減衰量の確認

高速デジタルSoCのSerDes PLLは、超低ジッタになるようにデザインする必要があります。位相雑音感度が高いため、これらのテストにはR&S®FSWP 位相雑音アナライザが測定器として最適です。

詳しくは

PCIe基準クロック(Refclk)の真のジッタ性能の検証

高速デジタルデザインにおけるクロックの真のジッタ性能の検証

データレートの上昇に伴い、PCIe基準クロック(Refclk)のジッタリミットがますます厳格になっています。このような非常に高いジッタ感度に対応するために、PCIe Gen5規格は、Refclkの真のジッタ性能を検証する位相雑音アナライザベースのテストを公表しました。

詳しくは

電源ノイズ除去比(PSNR)の測定

低ジッタの発振器とクロックを使用した、電源誘導ジッタとPSNRの測定

低ジッタの発振器とクロックは、クリーンなパワーレールにより最高の性能を実現します。システムデザイン全体の一部として、理想的ではないパワーインテグリティー環境で動作して、電源誘導位相雑音/ジッタを適切に抑制する必要もあります。

詳しくは

クロックソースの検証

クロックソースの検証

クロックソースの信号純度は、システム全体の性能に直接影響を与えます。正常に動作させるには、信号純度がデザイン要件を満たしていることを検証する必要があります。

詳しくは

タイムドメインと周波数ドメインのジッタ測定の比較

タイムドメインと周波数ドメインのジッタ測定の比較

ジッタを、タイムドメインと周波数ドメインで測定できます。オシロスコープベースのTIE測定には、すべてのジッタタイプが含まれています。一方、位相雑音アナライザベースのジッタ測定はクロック信号に制限されますが、非常に優れたジッタ感度を実現できます。

詳しくは

1 MHz~50 GHzをカバーする、相互相関法を使用したダイレクトダウンコンバージョン方式の位相雑音アナライザ

1 MHz~50 GHzをカバーする、相互相関法を使用したダイレクトダウンコンバージョン方式の位相雑音アナライザ

R&S®FSWPは、ダイレクトダウンコンバージョン方式のアナログI/Qミキサーとベースバンド信号サンプリングを使用して周波数レンジ1 MHz~50 GHzをカバーします。従来のPLLのコンセプトがデジタルAM/FM復調器に置き換えられ、振幅雑音と位相雑音を同時に測定できるようになります。

詳しくは

50 GHzを超える周波数での位相雑音テストの測定セットアップ

50 GHzを超える周波数での位相雑音テストの測定セットアップ

R&S®FSWPでは、外部ミキサーを使用すれば50 GHz以上で位相雑音測定を実行できます。相互相関機能を使用すれば、テストセットアップ内部の位相雑音の寄与をさらに低減できます。

詳しくは

クロックツリー、PLL、ADC/DACのテストに関するビデオ

Signal integrity measurements with jitter analysis

R&S®RTOによるジッタ解析

R&S®RTO オシロスコープオプションK12によるTIEジッタの測定を紹介します。統計、トラッキング、ヒストグラム、スペクトラム表示でクロック信号のTIEジッタを解析して、クロック上の妨害を検出します。

関連製品

オシロスコープ

オシロスコープ

詳しくは

ベクトル・ネットワーク・アナライザ

ベクトル・ネットワーク・アナライザ

詳しくは

シグナル・スペクトラム・アナライザ/位相雑音アナライザ

シグナル・スペクトラム・アナライザ/位相雑音アナライザ

詳しくは

DC電源

DC電源

詳しくは

関連トピック

高速デジタルインタフェーステスト

高速デジタルインタフェーステスト

詳しくは

パワーインテグリティー・テスト

パワーインテグリティー・テスト

詳しくは

プロトコルレベル・デバッグテスト

プロトコルレベル・デバッグテスト

詳しくは

EMCテスト

EMCテスト

詳しくは

リクエスト情報

ご質問や詳細な情報のご要望などがございましたら、こちらのフォームよりお気軽にお問い合わせください。担当者よりご連絡させていただきます。

マーケティング・パーミッション

お問い合わせ内容が送信されました。 後ほどご連絡致します。
An error is occurred, please try it again later.