シグナルインテグリティーテスト

シグナルインテグリティー:PCB/インターコネクトテスト

伝送チャネルのシグナルインテグリティーを確保するためには、PCBトレース、ビア、コネクタ、ケーブルの適切な設計が不可欠です。性能は通常、挿入損失とリターンロス、近端クロストーク(NEXT)と遠端クロストーク(FEXT)によって評価されます。潜在的なEMI/EMS結合経路を解析するために、多くの場合、モード変換(差動からコモンへのモード変換など)が指定されるため、テストする必要があります。周波数ドメインパラメータもタイムドメインに変換され、信号構造全体の不連続部やインピーダンス、信号の立ち上がり/立ち下がり時間、ペア内/ペア間スキューが表示されます。また、アイダイアグラム・テストやアイマスク・テストは、多くの場合、Sパラメータ測定値に基づいて実行されます。

複数の規格に基づく面倒なTRM/TRL校正を回避するためには、ディエンベディングによって、DUT(被試験デバイス)に対するリードインおよびリードアウトを正確に評価する必要があります。これにより、リードインおよびリードアウトが測定から取り除かれるため、DUTを正確に測定することができます。評価済みのリードインは、オシロスコープ測定でのこの信号経路のディエンベディングに使用することも可能です。

ローデ・シュワルツは、タイムドメインと周波数ドメイン両方の専門知識を活用し、関連する規格委員会と緊密に連携することで、PCB/インターコネクトをテストしたり、測定結果からディエンベディングするためにオシロスコープで使用するリードインを評価するための幅広いシグナルインテグリティー・ソリューションを提供しています。

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ポスター:シグナルインテグリティー・アイテスト

このポスターには、トランスミッターやレシーバーでのシグナルインテグリティー・アイテストおよびオシロスコープとベクトル・ネットワーク・アナライザを使用したアイダイアグラムの作成方法に関するガイダンスが掲載されています。

ラボでの参考資料として、このポスターをご利用ください。PDFのダウンロード、または印刷済みのハードコピーバージョンをラボ用にお申し込みください。

PCB/インターコネクトテストに関するウェビナー

ウェビナー:PCボードの高速信号構造を正確に測定するための差動プローブの選択、特性評価、ディエンベディング

ウェビナー:PCボードの高速信号構造を正確に測定するための差動プローブの選択、特性評価、ディエンベディング

このウェビナーでは、差動プローブを用いてPCボードの高速信号構造を正確に測定するための重要な側面について説明します。

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Webinar: Advanced deembedding - accurate fixture modelling for precise VNA measurements of non-coaxial DUTs

ウェビナー:高度なディエンベディング - 非同軸DUTの高精度なVNA測定を実現するためのフィクスチャの正確なモデリング

このウェビナーは、高速デジタルエレクトロニクスの設計およびテストに携わるエンジニアを対象としています。

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PCBのシグナルインテグリティー解析

ウェビナー:PCB/インターコネクトのシグナルインテグリティー解析

このウェビナーは、デジタルデザインのシグナルインテグリティーに携わるエンジニア用に作成されています。インピーダンス不整合、プリント基板材料の損失および周波数応答、意図しないクロストーク、共振ストラクチャーなど、PCB/インターコネクトによるチャネルへの影響のさまざまな側面に焦点を当てます。

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PCB/インターコネクトテストに関するドキュメント

テストフィクスチャの特性評価およびディエンベディング

テストフィクスチャの特性評価およびディエンベディング

コネクタタイプ以外のデバイスの測定には、テスト機器の同軸インタフェースから被試験デバイスまでに適応するテストフィクスチャまたはプローブが必要です。これらのリードインとリードアウトは、測定結果に基づいて特性評価およびディエンベディングする必要があります。このアプリケーションノートでは、R&Sベクトル・ネットワーク・アナライザでリードインとリードアウトの構造を正確に評価およびディエンベディングするための実用的なヒントを紹介します。

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Delta L 4.0によるPCB信号構造の挿入損失テスト

インチ当たりの挿入損失は、PCIe設計におけるPCBの主要な指標です。これは、PCBプローブやビアの効果を除去して、特定のPCBレイヤーで信号トレースのセクションを測定する必要があります。Delta-Lは、この値を算出するために選択される手法で、長さの異なるテストクーポンを使用します。Delta L 4.0は、最近の拡張によりPCIe 5.0および6.0にも対応しており、R&S®ZNx-K231に統合されています。

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R&S®ZNBによる高速デジタルPCBの正確な測定

R&S®ZNBによる高速デジタルPCBの正確な測定

R&S®ZNBにR&S®ZNB-K20 アドバンスド・タイムドメイン・オプションを追加すれば、デジタル高速信号構造に対して、アイダイアグラム、立ち上がり時間、スキューなどの正確なテストを実行できます。リードインおよびリードアウトの影響を取り除くために、追加のディエンベディングツールをインストールすることもできます。

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PAM-4アプリケーションでの正確なSパラメータの重要性

PAM-4アプリケーションでの正確なSパラメータの重要性

高速デジタルデザインの信号構造の挿入損失、リターンロス、クロストークを評価するためには、Sパラメータを正確に測定する必要があります。定義されているトランスミッター/レシーバーモデルのチャネル性能を示すために、COM(Channel Operating Margin:チャネル動作マージン)とERL(Effective Return Loss:実効リターンロス)が採用されています。

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ベクトル・ネットワーク・アナライザZNAを使用したタイムドメイン測定

ベクトル・ネットワーク・アナライザZNAを使用したタイムドメイン測定

ネットワーク・アナライザ・ベースのTDR/TDT測定の概要:インパルス/ステップ応答、時間/距離分解能、ステップ幅/明白領域、ウィンドウ関数およびタイム・ドメイン・ゲーティング。

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R&S®ZNB

プリント回路基板上で高周波シグナルインテグリティーを検証

データレートの上昇に伴い、40 GHzを超える周波数のPCBの信号構造を設計する必要があります。バックドリルの検査、機能的な信号構造の対応するインボードテストの必要性が高まっていることから、完全に自動化された高速テストソリューションが求められています。

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マルチポートVNAを使用した高速デジタルチャネルの迅速な特性評価

マルチポートVNAを使用した高速デジタルチャネルの迅速な特性評価

ベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)は、高速デジタルチャネルの特性評価に最適な測定器です。R&S®ZNBTなどのマルチポートVNAは、従来の4ポートVNAと比べて、マルチレーン信号構造のIL、RL、NEXT、FEXTの測定時に威力を発揮します。

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PCB/インターコネクトテストに関するビデオ

De-embedding and measuring a PCIe5 connector with R&S®VNA
R&S®VNAによるPCIe5コネクタのディエンベディングおよび測定

R&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザによる設定および測定を紹介しながら、テストフィクスチャに統合されているPCIe5コネクタのディエンベディングをデモします。

Signal Integrity Measurements

シグナルインテグリティー測定

R&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザとR&S®ZNA-K20 アドバンスド・タイムドメイン・オプションを組み合わせれば、アイダイアグラム、立ち上がり時間、スキューなどのさまざまなシグナルインテグリティー測定を実行できます。USB-Cケーブルを、周波数ドメインとタイムドメインで解析できます。

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

R&S®ZNBによる差動信号構造のシグナルインテグリティーテスト

R&S®ZNB-K20 アドバンスド・タイムドメイン・オプションによる立ち上がり時間、インピーダンス、ペア内スキュー、ペア間スキューなどの測定を紹介します。

TDR/TDT Analysis with R&S Oscilloscopes

R&S オシロスコープによるTDR/TDT解析

R&S®RTP-K130によるTDR/TDT測定、インピーダンスおよび伝送損失の解析。このオプションには、測定の基準面を目的の位置に移動するための使いやすい校正ウィザードが含まれています。

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

R&S®ZNBによるアイダイアグラム解析:概要

R&S®ZNB-K20 アドバンスド・タイムドメイン・オプションによるアイダイアグラムおよびマスクテストの測定を紹介します。このオプションにより、ジッタやノイズの解析と、測定されたアイダイアグラムに対するエンファシスおよびイコライゼーションが可能になります。

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

R&S®ZNBによるアイダイアグラム解析:測定のセットアップ方法

R&S®ZNB-K20 アドバンスド・タイムドメイン・オプションによるアイダイアグラムおよびマスクテストの測定を紹介します。このオプションにより、ジッタやノイズの解析と、測定されたアイダイアグラムに対するエンファシスおよびイコライゼーションが可能になります。

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