Application Notes

Измерения в устройствах с очень высоким коэффициентом шума

Измерения в устройствах с очень высоким коэффициентом шума проводятся по различным причинам. Например, в широком спектре областей применения характеристики испытуемых устройств определяются с помощью сложной испытательной установки, которая включает в себя высокие потери до или после малошумящего испытуемого устройства. В случае высоких частот коммутационная матрица со сложной маршрутизацией сигналов и кабелей имеет очень высокие потери. В других случаях устройство может использоваться в испытательных схемах, в которых невозможен прямой доступ (например, измерения на пластине с помощью зонда). С помощью стандартного измерительного оборудования очень сложно или невозможно измерять коэффициент шума подобных устройств.

Name
Type
Version
Date
Size
1EF110_e_FSW-K30 High Noise Figure

This application note describes a technique to perform the noise figure measurement on lossy devices like attenuators, or on devices embedded into in test setups with high loss in front of the low noise amplifiers. The R&S®FSW-K30 noise figure measurement application performs this important measurement with a signal and spectrum analyzer using the Y-factor method. Key for this technique is a modified noise source with high level noise output signal that stimulates the device under test, and a sensitive spectrum analyzer that captures the signal from the device.

Type
Руководство по применению
Version
1e
Date
Jun 24, 2020
Size
570 kB