Tests digitaler Designs
Testlösungen für die Validierung und Fehlersuche an digitalen Designs
Während die technologische Evolution rasch voranschreitet, müssen bei der Entwicklung digitaler Hochgeschwindigkeitsdesigns immer höhere Standards gesetzt werden, um mit dem Markt Schritt zu halten und den steigenden Erwartungen gerecht zu werden. Elektronikingenieure stehen vor der Aufgabe, integrierte Leiterplattenarchitekturen zu entwerfen und zu entwickeln, die diese anspruchsvollen Anforderungen erfüllen. Jede Generation eines elektronischen Geräts bringt auch neue Herausforderungen für die Performance eines digitalen Designs mit sich. Wenn Sie sicherstellen möchten, dass Ihr digitales Systemdesign den immer anspruchsvolleren Standards und Herausforderungen gerecht wird, müssen Sie es in allen Phasen des Produktentwicklungszyklus testen – vom Design bis zur vollständigen Konformität. Testlösungen für digitale Designsmüssen ein breites Spektrum an Designvarianten abdecken – z. B. Verbindungsprodukte – und Testwerkzeuge für zahlreiche Messungen wie etwa Jitter-Tests bereitstellen.
Signalintegritätund Leistungsintegrität (Power Integrity)sind bei digitalen Designs von fundamentaler Bedeutung. Die Datenraten steigen, die Versorgungsspannungen werden kleiner und die Integrationsdichten nehmen zu: All diese Faktoren bedingen niedrigere Jitter- und Rauschgrenzen für Signale und Takte. Sie führen auch zu einer größeren Störanfälligkeit des Übertragungskanals etwa für frequenzabhängige Dämpfung, Reflexionen und Nebensprechen. Zudem verschärfen sich die Auswirkungen von Spannungseinbrüchen und Ground-Bounce auf den Stromschienen. Die niedrigeren Versorgungsspannungen erfordern außerdem engere Toleranzen für Störungen auf der Stromschiene, die Jitter verursachen und die Signale und Takte mit Amplitudenrauschen belasten.